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公眾號:chem17
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產品簡介
Surftest(表面粗糙度測量儀)SV-3100
178系列—表面粗糙度測量儀
表面粗糙度測量儀SV-3100系列產品可進行高精度、高水平分析和多功能粗糙度測量。
特點
三豐表面粗糙度測量儀SV-3100系列產品可進行高精度、高水平分析,多功能3D表面粗糙度分析,微細輪廓測量,以及原有的表面粗糙度測量。
自動調水平工作臺、3軸調整臺等外部設備的應用,有效增強了該產品的操作性能,同時也真正實現了自動測量。
安裝了專業資料分析軟件SURFPAK-SV使用這一軟件,可對從車間和實驗室中得到的資料進行統一格式的管理。
采用陶瓷制作的X軸驅動部導軌,因為陶瓷具有*的防磨損性能。無需潤滑油也能正常工作。
為了保證高精度測量,在X軸和Y軸(選件)上都內置了高清晰度的玻璃尺(X軸分辨率:0.05μm,Y軸分辨率:1μm)因為要保證SV-3100系列產品具有高度的可靠性,特別是對于水平粗糙度參數(S,Sm),X軸的分辨率就必須達到相當的水平。
配有高精度測針。
配有多種功能,如“直線度補償功能”,可確保X軸的線性精度;“圓度補償功能”,可保證測針的垂直移動;以及“針尖半徑補償功能”等。
測針和測針導頭都可輕松替換。可選測針和滑軌可適應各種粗糙度測量的需要,如小孔測量、深孔測量等。
在各種型號中,還提供了易于操作的控制箱。控制箱與主機分離,可遙控執行定位、開始/停止測量、返回以及遠程進行其他操作。驅動部的上/下位置和X軸的移動都可手動進行微調。
技術參數
X軸
測量范圍:
分辨率:0.05μm
檢測方法:線性編碼器
驅動速度:0
測量速度:0.02
移動方向:向后
直線度:(0.05+
(0.5μm/
傾角范圍:±45º
Z2軸(立柱)
垂直移動:
分辨率:1μm
檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器
驅動速度:0
檢測器
范圍/分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,
8μm/0.0001μm(使用測頭選件
時,zui大可達2400μm)
檢測方法:無軌/有軌測量
測力:4mN或0.75mN(低測力型)
測針針尖:金剛石、90º/5μmR
(60º/2μmR:低測力型)
導頭曲率半徑:
檢測方法:差動電感式
基座尺寸(H):600x
基座材料:花崗巖
尺寸(DxH):756x482x
756x482x
1156x482x
766x482x
766x482x
1166x482x
重量
*L為驅動長度(mm)
評估能力:SURFPAK-SV
評估輪廓
P(主輪廓),R(表面粗糙度輪廓),WC,WCA,WE,WEA,
DIN4776輪廓、包絡殘余線、粗糙度motif、波形motif
評估參數
Ra,Rq,Rz,Ry,Rz(JIS),Ry(DIN),Rc,Rp,Rpmax,Rpi,Rv,Rvmax,Rvi,
Rt,Rti,R3z,R3zi,R3y,S,Pc(Ppi),Sm,HSC,mr,?c,plateauratio,
mrd,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,?a,?q,?a,?q,Sk,Ku,Lo,Lr,A1,
A2
粗糙度motif參數:Rx,R,AR,SR,SAR,NR,NCRX,CPM
波形motif參數:Wte,,W,AWSW,SAW,NW
分析圖表
ADC,BAC1,BAC2、功率譜圖、自相關圖、Walsh功率
譜圖、Walsh自相關圖、傾斜分布圖、局部峰值分布圖、
參數分布圖
濾波類型2CR-75%,2CR-50%,2CR-75%(相位校正),
2CR-50%(相位校正),高斯-50%
截止波長*
?c:
fl:
fh:
取樣長度(L)*
取樣長度
傾斜補償、R平面(曲面)補償、橢圓補償、拋物線補償、
雙曲線補償、二次曲線自動補償、多項式補償、
多項式自動補償
可在
選件
178-611:階差樣板(2μm,10μm)
178-612:階差樣板
(2μm,10μm,79μinch,394μinch)
178-610:公制型4段階差樣板
(1μm,2μm,5μm,10μm)
178-047:三軸調整臺(包括998291)
178-016:調水平工作臺
178-042-1:DigimaticXY調水平工作臺(25x
178-052-1:DigimaticXY調水平工作臺(1"x1")
178-043-1:XY調水平工作臺(25x
178-053-1:XY調水平工作臺(1"x1")
178-019:精密卡鉗*
998291:精密V型塊*
181-902:帶夾鉗的V型塊
(zui大工件直徑:
181-901:帶夾鉗的V型塊
(zui大工件直徑:1")
178-023:防震臺
178-024:防震臺架
218-007:儀器放置臺
166-215:儀器放置臺(帶有抽屜)
218-010:輔助臺
218-008:輔助臺
性能參數:
| 型號 | SV-3100S4 | SV-3100S4 | SV-3100H4 | SV-3100H4 | SV-3100W4 | SV-3100W4 |
| 貨號(mm) | 178-471-1* | 178-471-2* | 178-472-1* | 178-472-2* | 178-473-1* | 178-473-2* |
| 貨號(inch) | 178-481-1* | 178-481-2* | 178-482-1* | 178-482-2* | 178-483-1* | 178-483-2* |
| 貨號(mm) | 178-451-1* | 178-451-2* | 178-452-1* | 178-452-2* | 178-453-1* | 178-453-2* |
| 貨號(inch) | 178-461-1* | 178-461-2* | 178-462-1* | 178-462-2* | 178-463-1* | 178-463-2* |
| 檢測器測力 | 0.75mN | 4mN | 0.75mN | 4mN | 0.75mN | 4mN |
| X軸測量范圍 | | | | |||
| 垂直移動 | | | 500mmmanual立柱 | |||
| 花崗巖基座尺寸(D) | 600x | 600x | 1000x | |||
| 尺寸(主機、DxH) | 756x782x | 756x482x | 1156x482x | |||
| 重量(主機) | | | | |||
| 型號 | SV-3100S8 | SV-3100S8 | SV-3100H8 | SV-3100H8 | SV-3100W8 | SV-3100W8 |
| 貨號(mm) | 178-476-1* | 178-476-2* | 178-477-1* | 178-477-2* | 178-478-1* | 178-478-2* |
| 貨號(inch) | 178-486-1* | 178-486-2* | 178-487-1* | 178-487-2* | 178-488-1* | 178-488-2* |
| 貨號(mm) | 178-456-1* | 178-456-2* | 178-457-1* | 178-457-2* | 178-458-1* | 178-458-2* |
| 貨號(inch) | 178-466-1* | 178-466-2* | 178-467-1* | 178-467-2* | 178-468-1* | 178-468-2* |
| 檢測器測力 | 0.75mN | 4mN | 0.75mN | 4mN | 0.75mN | 4mN |
| X軸測量范圍 | | | | |||
| 垂直移動 | | | 500mmmanual立柱 | |||
| 花崗巖基座尺寸(D) | 600x | 600x | 1000x | |||
| 尺寸(主機、DxH) | 766x482x | 766x482x | 1166x482x | |||
| 重量(主機) | | | | |||
關聯品牌
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