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內容聲明：
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產品簡介
拔插式四探針頭詳細信息
拔插式四探針頭 技術特點：
1、 百萬次超長使用壽命，拔插針式，可自行更換探針。
2、 使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸套，確保探針間距的恒定、準確。
3、 控制寶石內孔與探針之間的縫隙不大于6μｍ，保證探針的小游移率。
4、 采用特制螺旋式微型壓力彈簧，使每根探針都具有獨立、準確的壓力。
5、 量具精度的進口硬質合金探針，在寶石導孔內穩定運動，持久耐磨。
拔插式四探針頭 適用范圍
1、 測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率，測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻。
2、 測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻。
技術指標
1、 游移率
B級…………… ＜0.5%
*……………＜0.3%
A*………… ＜0.2%
2、 間距偏差
B級…………… ＜3%
*…………… ＜2%
A*………… ＜2%
3、 zui大針與導孔間隙：0.006mm
4、 探針材料：進口硬質合金或高速鋼
5、 探針壓力 標準壓力：4—10N（4根針總壓力）
1牛頓（N）=101.97克
6、 針尖壓痕直徑：25—100μｍ、100—250μｍ（簿層）
7、 500V絕緣電阻：＞1000MΩ
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