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| ¥258000 |
| ≥1 |
生產廠家
JW-BK122F
967
北京市
2015/10/27 22:37:00
產品簡介
JW-BK122F型 氮化硅比表面及孔徑分析儀
精微高博是氮化硅比表面及孔徑分析儀的廠商,精微高博一并榮獲中國*測試證書,*及CE認證并且還有*的產品是通過**
精微高博比表面儀具有真空系統,可以進行精確的超微孔孔徑分布測試。
功能
比表面測定: BET(單點、多點)比表面、Langmuir比表面、外表面測定;
BJH孔徑分布測定: 總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布;
微孔常規分析: 微孔總孔體積、總內表面積(t-圖、D&R、MP等)
微孔孔徑分布分析: 氮分壓10-8 - 10-1范圍的等溫吸附曲線測定 0.35 - 2nm微孔孔徑分布測試(HK、FS、NLDFT法
技術參數
原理方法: 低溫氮吸附,靜態容量法
吸附氣體: 高純氮氣,也可用氪、氦、二氧化碳等其他氣體
極限真空: ≤ 10-6 Pa ( 7.5×10-9 Torr)
氮氣分壓: 1×10-8 –0.995
控制精度: 測試壓力點控制zui小間隔可小于0.1 KPa (0.75 Torr) ,測試壓力點可多達一千個
多級壓力傳感器壓力測試精度達0.0001Pa (7.5×10-7 Torr)
10-8-10-1范圍測試壓力點大于50點
測試范圍: 比表面 ≥ 0.005 M2/g,無規定上限
介孔孔徑分析 2 - 400nm
微孔孔徑分析0.35 - 2nm
測試精度: ≤±1.5%
0.35-2nm 微孔zui可幾孔徑重復誤差 ≤0.01nm
測試效率: 多點BET比表面每樣平均20min
孔徑分析時間隨材質不同各異
預 處 理: 兩樣品同位處理,真空低于0.1Pa, 溫度50 - 400℃,±1℃
軟件: BET(單點、多點)、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、
HK、FS、NLDFT等
特色
◎ 比表面儀具有國內*可以精確測定微孔孔徑分布的儀器,控制和測試精度達到*水平,
工作站數量可根據用戶要求單獨設計、制造,可以代替進口;
◎ 比表面儀具有真空度高,比表面和孔徑分析的范圍更寬,精度更高;
◎ 比表面儀具有*的抽氣與充氣速度精密控制技術,保證了測試的準確性和安全性;
◎ 比表面儀具有*的液氮面多途徑控制與校正技術,連續測試10小時也不需添加液氮;
◎ 比表面儀具有微孔常規測試有*的標準等溫線數據庫和規范的分析方法,國內;
◎ 比表面儀具有國內*擁有微孔分布測試的軟件技術(HK、FS、NLDFT等)
◎ 比表面儀具有軟件功能齊全、界面友好、操作方便、實時顯示樣品的吸、脫附壓力變化及平衡過程;
◎ 比表面儀具有試驗全過程自動化、智能化控制,長時間運行可以無人職守;
靜態容量法比表面測試儀特點之真密度測試:
技術參數:
JW-BK系列靜態容量法比表面及孔徑分析儀,適用于各種粉體材料、固體材料等的真密度分析,*的高精度真密度測試功能,測試時間不超過3分鐘/次,連續測試次數用戶可以自行定義,zui高次數可達10次。
★ 重復性:± 0.015 %;
★ 精確度:± 0.02 %;
★ 測試分辨率:0.00001 g/cm3
公司榮譽
**
中關村*協會理事單位
中國分析測試協會會員單位
北京粉體技術協會理事單位
*受*專家進行產品鑒定的企業
歐盟安全體系認定證書
中國計量研究院儀器校準證書
北京市可引進人才進京落戶單位
公司的核心價值
發展;尊重人才與創新;以服務客戶為己任。
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