禁帶寬度是半導體的一個重要特征參量，它直接影響半導體器件的耐壓和高溫工作溫度。本文使用島津UV-3600 Plus紫外分光光度計和積分球附件測定二氧化鈦（TiO2，銳鈦礦）吸收光譜圖，得到截止波長，根據公式計算得到該材料的禁帶寬度。
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