本研究創建了一種檢測和表征 10 nm Au 納米顆粒以及 10 nm與 30 nm 納米顆粒混合物的簡單方法。 該方法將無氣體模式與 ICP-MS MassHunter 簡單而功能*的單顆粒應用模塊相結合，利用了 Agilent 7800 ICP-MS 高靈敏度和易于優化的特點。 借助方法向導，只需輕點幾下鼠標即可完成方法開發，之后便能夠自動分析短樣品序列。 單顆粒分析的速度非常快，每個樣品通常僅需 60 秒。介紹了包括校準、霧化效率測定和樣品分析在內的整個序列，用時少于半小時。
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