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單板LOW-E膜面鑒別儀用于判斷單板玻璃是否鍍有LOW-E膜，及LOW-E面的存在位置。鑒別儀出廠時已校準好，可直接使用。測量對象：單片Low-E鍍膜玻璃、雙層中空Low-E鍍膜玻璃適用環境：現場測量玻璃厚度：≤13mm樣品要求：單片、雙層中空供電電源：9V外形尺寸：95*60*25mm產品重量：150g功能特點：1.從玻璃一面可檢測雙面數據。2.采用輕觸式測量。3.具有LED指示燈顯示。操作步驟：本檢測儀有一個開關和三個LED指示燈，每個指示燈下方分別標有CLEARGLASS、COATEDGL
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植物水分狀況測定儀是用于測定植物水勢和它的組成成分及壓取木質部導管汁液成分分析用的儀器，可用它研究植物的水分關系和植物與環境的關系。適用于植物生理學、生態學、農學、林學及牧草等的研究。據此指導作物及林草的合理用水和抗旱育種工作，儀器用于室內和野外工作。測定原理:植物在土壤-植物-大氣連續系統中，根不斷從土壤中吸收水分，而葉片又不斷向周圍環境散失水分。在這種水勢梯度系統中，植物根-莖-葉存在著水勢梯度，使木質部導管中的細小水柱受空氣低水勢的負壓影響，形成水向上運輸的拉力。當植物枝條或葉片被切下時，
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蓄電池內阻儀可以檢測單體電池的電壓和內阻，將檢測到的數據進行存儲和處理，對電池故障進行報警，儀表對測試數據進行保存，查詢、刪除和導出。上位機軟件對測試的數據，通過圖表對數據進行分析和顯示，自動生成電池的檢測報告。產品特點：1.采用液晶觸摸屏和按鍵操作兩種模式；2.儀器可存儲999組測試數據，每組存儲500節電池數據；可進行查詢、分析等；3.儀器具有自動測試模式，具有接續、重測功能；4.具有電壓、內阻、容量柱狀圖分析比較功能；5.具有過壓保護，自恢復過流保護功能；6.上位機數據管理軟件可進行數據管
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兩探針電阻率測試儀是按照SEMIMF397-1106（用兩探針測量電阻率的測量方法）“兩探針法”的要求。適用于測量橫截面尺寸是可測量的，棒的長度與橫截面MAX尺寸之比不小于3：1。橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進出，遠離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應（如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等）。儀器是由電氣測量、測試臺及兩探針頭組成。儀器具有精度為0.05%的恒流源以及雙數字表，在測量電阻率的同時，另一塊數字表監
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方塊電阻測定儀用于測量半導體材料（硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電薄膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。儀器是配精度為0.05%的恒流源、恒流源開關以及雙數字表，在測量電阻率的同時，數字表監測電流變化，儀器可選配測量軟件用于測量硅片時可自動進行厚度、直徑、探針間距的修正，并計算出硅片電阻率、徑向電阻率的MAX百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均勻度。規格參數測量范圍：測電阻率：0.00001～199000Ω·cm
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電容電壓特性測定儀是測試頻率為1MHz的數字式電容測試儀器。用于測量半導體器件PN結勢壘在不同偏壓下的電容量，也可測試其它電容。適用于元件生產、科研、高校等。儀器電容量是四位讀數，可分辨到0.001pF，偏置電壓分辨率為0.01V，漏電流分辨率為0.01μA。規格參數信號頻率：1.000MHz±0.01%信號電壓：≤100mVrms測量速率：3次/秒、5次/秒電容范圍C：0.001-10000pF漏電流范圍：0.1-199.9μA直流偏壓：儀器自帶偏壓0.01-35V，可外接偏壓源，偏壓輸入為1
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糖化器是利用EBC分析方法，液晶觸摸屏，以及定時和定溫聲光報警等；儀器采用PID控溫，可完成麥芽糖化過程的保溫、升溫與定時控制；適用于麥芽廠、啤酒、教學等實驗室分析麥芽及輔料的糖化力、糖化時間和浸出物等。儀器具有自動換水降溫功能、高液位保護功能、漏電保護功能。儀器除了可選擇4孔、8孔之外，還可定制12孔。技術指標：試驗孔數：8孔控溫方式：PID控溫溫控范圍：室溫+5℃~90℃分辨率：0.1℃升溫速率：1℃/min，0.5~1.5℃/min可調攪拌速度：80~135rpm可調加熱功率：3200W冷
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四探針電阻率測定儀（方塊電阻測試儀、方阻測定儀）可根據不同材料的要求選擇測試探頭；碳化鎢探針探頭用于測試硅類半導體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導電塑料等硬質材料的電阻率和方阻；鍍金銅合金探針探頭用于測試柔性材料導電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導電膜（ITO膜）、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導體材料的電阻率和方阻。儀器適用于半導體材料廠、高校和科研對導體、半導體材料導電性能的測量。規格參數：測量范圍電阻率：10µΩ?cm～200kΩ?
