低溫共聚焦顯微鏡
LT-SCM 通過將激光束通過光源孔徑，利用物鏡聚焦到樣品表面的一個小區(qū)域，并通過收集樣品表面發(fā)射的光子逐像素構建圖像。LT-SCM 提供高分辨率圖像，即使樣品表面有凹凸，也能保持整個視場的焦點清晰。支持非接觸、非破壞性測量，并可在可變溫度下操作。
產(chǎn)品規(guī)格高 NA APO 物鏡，0.82 NA / 0.95 mm
532 nm，SLM 10 mW 激光
掃描范圍：30×30×15 μm @ 4 K
外徑：49 mm
溫度范圍：10 mK – 300 K
光學檢測：APD
實驗用 8 針連接
XYZ 樣品納米定位臺，行程 6×6×12 mm
NV/QTF 傳感器 XYZ 納米定位臺，行程 4×4×6 mm
電阻式位置傳感器分辨率：200 nm
先進的超低噪聲 FPGA 基 AFM 控制器，配高速 USB 接口
32 位實時處理器，128 MB DDR SDRAM
2 通道 16 位 / 100 MHz ADC
2 通道 16 位 / 100 MHz DAC
FPGA 上 7 個數(shù)字 PID 回路
19 通道壓電納米定位臺控制器
16 通道 24 位 / 175 kHz ADC
XYZ 掃描信號 24 位 DAC
低噪聲高壓放大器
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