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| 應用領域 | 環保,能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,電氣 |
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產品簡介
詳細介紹
低溫散射掃描近場光學顯微鏡LT-sSNOM 具備近場成像與光譜分析能力，同時支持接觸模式、動態模式、MFM、cAFM、KPFM、PRFM 等多種 AFM 模式。探針與樣品界面通過離軸拋物面鏡照明，散射光由外差干涉儀檢測。可同時獲得拓撲圖像與光學圖像。
產品規格波長范圍：532 nm – 20 µm（配金屬反射鏡）
配備光纖干涉儀的 AFM
壓電掃描器，掃描范圍 30×30×15 μm（@4K）
XYZ 樣品納米定位臺，行程 6×6×12 mm
離軸拋物面鏡 XYZ 納米定位臺，行程 4×4×6 mm
200 nm 分辨率電阻式位置傳感器
外徑：49 mm
溫度范圍：10 mK – 300 K
最大磁場：31 T
樣品臺配 8 個電接觸點
支持模式：Contact / Dynamic / ncAFM / MFM / cAFM / KPFM / PRFM / EFM
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