產品描述
Advantest TR7200 是一款高性能掃描測試系統，屬于 Advantest 半導體測試設備產品線中的關鍵組件，主要用于半導體器件的直流參數測試（DC Parametric Test）。其核心功能包括高精度電壓/電流源與測量、多通道并行測試及動態參數掃描，可適配模擬電路、混合信號電路及功率管理芯片等器件的測試需求。設備采用模塊化設計，支持靈活配置，適用于實驗室研發與生產線自動化測試環境。
主要特點
高精度電壓/電流源與測量：提供納伏級電壓分辨率（1μV）和飛安級電流分辨率（10fA），確保微小信號的精準捕捉，滿足低功耗器件測試需求。
多通道并行測試能力：支持多通道同步測試，可同時對多個器件或參數進行測量，顯著提升測試效率，縮短量產周期。
動態參數掃描功能：支持步進掃描（最小步進時間700μs）和脈沖掃描（最小脈沖寬度100μs），適配動態特性測試，如電源完整性分析和瞬態響應驗證。
模塊化與可擴展性：采用模塊化設計，用戶可根據測試需求靈活增減通道數量或升級功能模塊，支持與第三方設備聯動，適配復雜測試系統集成。
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