產品描述
Hioki 3540 直流毫歐高溫測試儀是一款專注高溫環境下低電阻精準測量的高性能設備，可適配手動測試與系統集成場景，通過 3540-01/-02/-03 系列型號滿足不同接口需求。儀器采用 4 端子測量法消除引線與接觸電阻干擾，搭配標準溫度探頭 9451 實現溫度同步檢測，能自動計算銅在 20℃基準下的電阻值，解決高溫環境中電阻值隨溫度漂移的測量難題。其測量量程覆蓋 30mΩ～30kΩ 共 7 檔，最高精度達 ±0.1% rdg.，緊湊機身（215×61×213mm）與雙供電模式（電池 / 交流電源）適配各類高溫作業現場。日置HIOKI 直流毫歐高溫測試儀
主要特點
高溫適配性能：標配溫度探頭同步測溫，支持銅材質 20℃電阻值補償計算，100ms 快速響應適配動態高溫環境，16 次 /s 采樣捕捉溫度變化下的電阻波動。
核心測量能力：4 端子測量法，30mΩ～30kΩ 量程，±0.1% rdg.±6dgt.（30mΩ、3Ω 量程）/±0.1% rdg.±4dgt.（其他量程）精度，最高分辨率 10μΩ。
分級功能配置：基礎款無外部接口，3540-01 帶 BCD 輸出與外部控制，3540-02 含打印機接口，3540-03 配備 RS-232C 接口便于高溫測試數據傳輸。
實用操作設計：液晶顯示清晰呈現電阻與溫度數據，支持自動量程與鍵盤鎖定，搭配夾型測試線 9287-10 增強高溫環境下的測試穩定性。日置HIOKI 直流毫歐高溫測試儀
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