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針對大 10 × 10 mm 的測量區域,可瞬間獲取 8 萬個點的高度。 由于采用白光干涉原理,不受材質/顏色、死角的影響,實現了微米級的高精度測量。

測量多點時,需要高精度且高速掃描目標物。 因此,往往會將時間浪費在移動載物臺上,不易進行全數檢測。 由于 WI-5000 系列是以面進行同時測量,因此可大幅縮短測量時間,實現全數檢測。

為了用于離線檢測,備有可固定傳感器頭的底座。 配備可削減檢測工時的各種實用功能。 改善從簡易測量到保存數據等各種情況的可操作性。
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