隨著第三代半導(dǎo)體（SiC/GaN）的快速普及，功率器件的開關(guān)頻率越來越高（可達(dá)1MHz以上），di/dt值大幅提升，對電流測量的精度、帶寬、空間適配性提出了更高要求。傳統(tǒng)電流測量設(shè)備無法捕捉高頻細(xì)節(jié)、無法適配器件級狹小空間，而英國PEM羅氏線圈憑借核心技術(shù)優(yōu)勢，成為功率半導(dǎo)體研發(fā)、測試與量產(chǎn)的“核心工具"，深度賦能產(chǎn)業(yè)升級。

應(yīng)用一：SiC/GaN器件動態(tài)特性測試

功率器件的動態(tài)特性（開關(guān)速度、導(dǎo)通損耗、關(guān)斷損耗）是研發(fā)的核心指標(biāo)，需要精準(zhǔn)測量開關(guān)瞬間的電流變化。PEM Ultra Mini系列線圈，截面僅1.3～1.7mm，可直接插入TO-220、D2PAK等器件管腳間隙，無需破壞器件封裝，帶寬達(dá)30MHz，能精準(zhǔn)捕捉di/dt高達(dá)100kA/μs的開關(guān)電流波形，清晰呈現(xiàn)開通、關(guān)斷瞬間的電流峰值與變化細(xì)節(jié)，幫助工程師優(yōu)化器件驅(qū)動電路，提升器件性能。

應(yīng)用二：功率模塊封裝測試

功率模塊（如IGBT模塊、SiC模塊）封裝過程中，鍵合線的電流分布、損耗情況直接影響模塊可靠性。PEM Ultra Mini HF系列線圈，體積微小、柔性可彎折，可環(huán)繞鍵合線進(jìn)行測量，精準(zhǔn)捕捉毫安級高頻紋波電流，分析鍵合線的電流分布均勻性，排查封裝缺陷，提升功率模塊的良品率與使用壽命。

應(yīng)用三：功率器件量產(chǎn)測試

量產(chǎn)場景中，需要高效、批量檢測器件的開關(guān)電流、損耗等參數(shù)，確保產(chǎn)品一致性。PEM Mini HF系列線圈，體積小巧、安裝便捷，可搭配自動化測試平臺，實現(xiàn)批量器件的快速測試；其高精度、高穩(wěn)定性，能確保每一件產(chǎn)品的測試數(shù)據(jù)可靠，大幅提升量產(chǎn)測試效率，降低測試成本。

應(yīng)用四：驅(qū)動電路優(yōu)化測試

驅(qū)動電路的設(shè)計直接影響功率器件的開關(guān)性能，需要精準(zhǔn)測量驅(qū)動電流與器件開關(guān)電流的同步性。PEM羅氏線圈搭配專屬積分器，可實現(xiàn)驅(qū)動電流與開關(guān)電流的同步測量，分析相位差、延遲時間，幫助工程師優(yōu)化驅(qū)動電阻、驅(qū)動電壓等參數(shù)，減少開關(guān)損耗，提升驅(qū)動電路的穩(wěn)定性與可靠性。

應(yīng)用五：器件可靠性測試

功率器件在長期工作中，會出現(xiàn)老化、損耗增大等問題，需要長期監(jiān)測電流變化，評估可靠性。PEM工業(yè)級線圈，耐老化、抗振動，在-40℃～+125℃寬溫范圍內(nèi)性能穩(wěn)定，可長期嵌入測試設(shè)備，實時監(jiān)測器件工作電流，捕捉異常電流波動，預(yù)警器件故障，為可靠性評估提供可靠數(shù)據(jù)支撐。