熱電材料科研測(cè)試中，頻繁遇到數(shù)據(jù)重復(fù)性差、溫控上限不足、多種異型樣品無(wú)法裝夾的難題？華測(cè)儀器 HC-RD-1100 塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀，提供解決塞貝克與電阻率測(cè)試新方案。

儀器配備室溫~1100℃寬溫域溫控系統(tǒng)，溫區(qū)規(guī)格可按需選配，搭配多氣氛氣路結(jié)構(gòu)，提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環(huán)境，準(zhǔn)確模擬材料高溫服役環(huán)境，避免樣品高溫氧化變質(zhì)，適配高溫?zé)犭娞沾伞⒍喾N半導(dǎo)體、熱電合金等塊狀試樣性能表征。

設(shè)備可一鍵同步完成塞貝克系數(shù)、電阻率兩項(xiàng)關(guān)鍵參數(shù)采集，同工位同步測(cè)試省去二次裝樣誤差；采用靜態(tài)直流法測(cè)定塞貝克，測(cè)量范圍為1~2500μV/K；四端法測(cè)試電阻率，測(cè)量范圍覆蓋 0.01~2×10⁵S/cm，可減少引線電阻、界面接觸電阻干擾，數(shù)據(jù)穩(wěn)定性更強(qiáng)。

自研三明治可調(diào)樣品支架，探針間距支持 4/6/8mm 靈活切換，裝夾松緊可控，可適配圓柱形、棱柱形、圓盤(pán)狀等多種外形尺寸試樣，保障樣品接觸穩(wěn)定性，減少測(cè)量誤差。

標(biāo)配 Huace pro 智能測(cè)控軟件，支持測(cè)試參數(shù)設(shè)置、激勵(lì)信號(hào)調(diào)控、實(shí)時(shí)曲線采集與數(shù)據(jù)自動(dòng)處理，全流程可視化操作，簡(jiǎn)化試驗(yàn)步驟，大幅優(yōu)化批量試樣的檢測(cè)效率，是高校實(shí)驗(yàn)室、新材料企業(yè)熱電性能評(píng)測(cè)設(shè)備。