本系統(tǒng)是為定量評估絕緣介質材料表面電荷動態(tài)衰減行為、解析電荷陷阱能級分布規(guī)律而設計，是高分子絕緣材料等研究的測試裝備。

設備搭載±30 kV 寬范圍直流高壓輸出模塊，電壓穩(wěn)定度≤0.1%/h，保障電荷極化過程持續(xù)穩(wěn)定，避免電壓波動引入測試誤差。系統(tǒng)標配針電極、柵電極、板式電極多種規(guī)格電極組件，電極間隙0~100 mm 連續(xù)可調，靈活適配薄膜、片材、成型試樣等不同形態(tài)樣品，覆蓋多樣化測試工況。集成溫控單元，測試溫度區(qū)間室溫~160℃連續(xù)可調，控溫精度 ±0.2℃；配套濕度可控密閉電極箱，可模擬電線電纜高溫載流、濕熱等實際測試環(huán)境，實現(xiàn)接近工況條件下的電荷特性測試。表面電位采集單元支持±10 kV 電位測量量程，測量精度可達1 V，具備 5~20 ms 高速信號響應能力，能夠捕捉電荷極化后電位短期驟降、中長期緩慢衰減階段演化曲線，獲取連續(xù)、完整的表面電荷衰減原始數(shù)據。

普遍應用于 XLPE 交聯(lián)聚乙烯絕緣材料、電力電纜絕緣料、復合介質、功能絕緣高分子等領域，支撐電纜新材料研發(fā)、機理分析、方案驗證、絕緣性能評價等科研與工程檢測工作。