隨著電子器件持續向小型化、高密度集成方向發展，高溫高濕疊加電場作用引發的離子遷移、絕緣電阻衰減等問題愈發突出，對產品長期服役穩定性構成挑戰。針對行業測試痛點，華測儀器推出絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統，可開展溫濕度偏壓、電化學遷移、表面絕緣電阻等長期加速老化試驗，完整復現復雜工況下絕緣性能演變全過程。

絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統可長時間（1~1000小時可按需定制）持續監測樣品絕緣電阻動態變化，準確捕捉離子遷移誘發的阻值跌落與微短路現象，為失效機理研究、材料配方篩選與生產工藝優化提供可靠數據支撐。設備應用場景覆蓋面廣闊，普遍應用于線路板、電子元器件、半導體封裝器件、電子材料、絕緣材料等領域，同時面向高校、研究院、第三方檢測實驗室開展新材料可靠性驗證。

依托測控算法與硬件防護設計，整套系統運行穩定、通道拓展靈活，適配長時間不間斷加速老化試驗。此次系統落地應用，進一步豐富華測儀器電子可靠性測試裝備矩陣。未來，華測儀器將持續深耕電介質可靠性測試賽道，不斷優化測試平臺性能，為國內電子產業品質升級、國產化新材料研發提供測試解決方案。