連續光學傳遞函數測量儀是一種專門用于測量光學系統成像質量的高精度儀器，通過分析光學傳遞函數（OTF）中的調制傳遞函數（MTF）和相位傳遞函數（PTF），客觀評估鏡頭、相機、望遠鏡等成像設備的性能表現。
儀器基于頻譜分析法，利用目標物（如狹縫、刃邊）經被測光學系統成像后，采集其圖像信息并計算線擴散函數（LSF），再通過傅里葉變換得到MTF和PTF數據。
典型結構包括：
光源與目標發生器
被測樣品裝夾座
大數值孔徑顯微鏡
CCD圖像傳感器
圖像處理與信號分析系統
注意事項：
光學元件保護：
禁止手觸：所有光學元件（如狹縫、準直鏡、CCD窗口）精度高，切勿用手觸摸或用普通布料擦拭。
清潔規范：僅使用專用鏡頭紙與無水乙醇輕擦，且在無塵環境下進行。
激光防護：若系統含激光光源，嚴禁直視光束路徑，必要時佩戴對應波長的防護眼鏡。
環境與安全控制：
防震防振：儀器應置于防震光學平臺，遠離馬達、泵體等振動源，測量時盡量減少人員走動或觸碰實驗臺。
溫濕度穩定：保持實驗室溫度在20±2℃，相對濕度低于60%，避免熱漂移導致光路偏移。
避光與遮光：關閉室內強光源，使用遮光罩封閉光路，防止雜散光干擾CCD成像。
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