6.產(chǎn)品名稱：放射治M區(qū)支架

　　產(chǎn)品編號：20260121-6

　　產(chǎn)品質(zhì)保：一年或者12個(gè)月

　　產(chǎn)品簡介：可以按照客戶要求非標(biāo)定制，以下為產(chǎn)品的可供參考的：技術(shù)參數(shù)與應(yīng)用說明，僅供參考，更多：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司

　　M區(qū)支架主要測量機(jī)頭M區(qū)內(nèi)外泄露輻射，支架根據(jù)WS674的方法在不同位置的孔內(nèi)放射熱釋光劑量片來測量泄漏輻射劑量應(yīng)在模體中測量，模體

　　各邊比照射野至少大5cm；模體的深度至少比測量深度大 5 cm，入射表面垂直于參考軸，放置在正常治療距離。 在比較大照射野下，給出的電子能量

　　分別測量雜散 X 射線占總吸收劑量的劑量比。

　　A.1. X 射線照射時(shí)相對表面劑量檢測方法 應(yīng)在模體中測量，模體各邊比照射野至少大5cm；模體的深度至少比測量深度大5cm，入射表面垂直于參考軸，探測器放置在正常治療距離。 應(yīng)從輻射束中移開所有不用工具就可取下的輻射束形成裝置，所有均整過濾器應(yīng)留在其規(guī)定位置上，在比較大照射野下，對以下給出的電子能量分別測量相對表面劑量。

　　A.2. 透過限束裝置的泄漏輻射檢測方法

　　A.2.1. X 射線穿過限束裝置

　　A.2.1.1 測量條件如下：

　　a）用至少 2 個(gè)十分之一值層的 X 射線吸收材料將射線出線口屏蔽。對非重疊式限束裝置，應(yīng)在比較小照射野尺寸下測量；

　　b）比較大泄漏輻射處用輻射探測器測量，輻射探測器的橫截面應(yīng)≤1cm2；

　　c）應(yīng)在模體中比較大吸收劑量深度處測量。

　　A.2.2. 泄漏輻射測量按如下方法進(jìn)行：

　　將矩形照射野對稱地設(shè)定成比較大（X 方向）乘比較?。╕ 方向）；

　　b）用輻射探測器測量 24 個(gè)點(diǎn)，確定其平均值，求出相對于比較大吸收劑量的百分比值；

　　c）再對稱地設(shè)定比較?。╔ 方向）乘比較大（Y 方向）照射野，重復(fù) A.2.2 b）的檢測；

　　d）對所有的 X 射線能量，重復(fù)上述測量。 如果有一個(gè)多元限束裝置，則打開可調(diào)節(jié)或可互換的限束裝置，以產(chǎn)生一個(gè)面積約為 300 cm2（約 18 cm×18 cm）的正方形照射野。把多元限束裝置關(guān)閉到與該照射野協(xié)調(diào)一致的比較小值，用輻射探測器測量多元限束裝置屏蔽的區(qū)域。

　　廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司，竭誠為您服務(wù)，我司可以非標(biāo)訂制符合客戶個(gè)性化要求的產(chǎn)品和設(shè)備。

　　以上信息僅供參考，更多：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司

　　是否可以非標(biāo)訂制：可以按照客戶要求非標(biāo)定制：放射治M區(qū)支架

　　產(chǎn)品編號：20260121-6