納米粒度電位儀是一種用于精確表征納米及亞微米級(jí)顆粒在液體中物理化學(xué)特性的精密分析儀器，主要功能是同步測(cè)定顆粒粒徑分布和Zeta電位（表面電勢(shì)），廣泛應(yīng)用于生物醫(yī)藥、納米材料、化工、食品、環(huán)境科學(xué)及化妝品等領(lǐng)域的研發(fā)與質(zhì)量控制。

　　該儀器基于兩大核心技術(shù)：動(dòng)態(tài)光散射（DLS）。在DLS模式下，激光照射懸浮顆粒，因布朗運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致散射光強(qiáng)度產(chǎn)生波動(dòng)，通過自相關(guān)函數(shù)分析可計(jì)算出顆粒的擴(kuò)散速度，再依據(jù)Stokes-Einstein方程得出流體力學(xué)直徑，測(cè)量范圍通常為0.3 nm至10μm，適用于蛋白質(zhì)、外泌體、脂質(zhì)體、聚合物膠束、納米藥物、乳液等體系。而在ELS模式下，樣品池施加電場(chǎng)，帶電顆粒發(fā)生電泳遷移，儀器通過檢測(cè)激光多普勒頻移獲取遷移速率，進(jìn)而計(jì)算Zeta電位（單位：mV），用以評(píng)估膠體體系的靜電穩(wěn)定性——一般|Zeta|>30 mV表示體系穩(wěn)定，不易團(tuán)聚。

　　納米粒度電位儀的保養(yǎng)秘訣：

　　一、每日使用后保養(yǎng)（每次測(cè)試完畢必做）

　　1.樣品池與光路腔體清潔（最關(guān)鍵）

　　DLS粒徑比色皿

　　一次性塑料皿直接丟棄；石英可重復(fù)皿：待測(cè)液倒出，超純水沖洗內(nèi)壁3～5次，少量無水乙醇潤(rùn)洗，倒置無塵紙避光晾干，禁止紙巾擦拭內(nèi)壁產(chǎn)生劃痕。

　　Zeta電位毛細(xì)管電泳池

　　用注射器抽取超純水反復(fù)推拉沖洗毛細(xì)管內(nèi)腔，沖凈殘留樣品、鹽離子、有機(jī)分散劑；

　　高鹽、高粘度、易吸附樣品測(cè)試后，增加乙醇沖洗步驟，防止顆粒、鹽結(jié)晶附著管壁；

　　排凈管內(nèi)所有氣泡，管壁無肉眼可見掛壁顆粒、白色鹽漬。

　　樣品支架、光學(xué)窗口

　　無塵棉簽蘸少量無水乙醇輕擦石英透光窗口，去除液滴殘留、粉塵；嚴(yán)禁硬物刮擦光學(xué)玻璃。

　　2.電極清潔

　　鉑/金電極表面若吸附樣品薄膜、沉淀物：純水沖洗，軟無塵布輕拭電極表面，保持金屬光亮無附著物；電極上殘留鹽分會(huì)造成電場(chǎng)不穩(wěn)、電位數(shù)據(jù)漂移。

　　3.整機(jī)外部與遮光倉

　　關(guān)閉樣品倉，擦拭倉內(nèi)濺出的樣品液體；機(jī)身外殼用濕無塵布擦拭，清除灑落電解液、粉塵；確認(rèn)遮光門密封完好，無漏光縫隙。

　　4.簡(jiǎn)易運(yùn)行檢查

　　測(cè)試結(jié)束空機(jī)運(yùn)行一次基線檢測(cè)，基線平穩(wěn)無大幅波動(dòng)，代表光路無明顯污染；基線噪聲異常需立刻深度清洗光學(xué)窗口。

　　5.環(huán)境整理

　　關(guān)閉儀器、電腦；清理操作臺(tái)廢液、廢棄比色皿；廢液分類收集，不直接滴落儀器內(nèi)部。

　　二、每周保養(yǎng)（停機(jī)30分鐘深度清潔）

　　溫控模塊保養(yǎng)

　　帕爾貼溫控樣品座取出，擦拭導(dǎo)熱金屬槽內(nèi)殘留水漬、干涸溶質(zhì)；檢查散熱風(fēng)扇運(yùn)轉(zhuǎn)無異響，出風(fēng)口無積灰堵塞；風(fēng)扇積灰用低壓干燥氣吹掃。

　　光路除塵

　　打開遮光倉，低壓干燥氮?dú)猓▔毫?le;0.2MPa）吹掃激光器、透鏡、PMT檢測(cè)器表面浮塵；禁止氣流直吹電極精密部件。

　　電極深度養(yǎng)護(hù)

　　長(zhǎng)期測(cè)高鹽、顏料、粉體懸浮液：將電極浸泡超純水10分鐘后超聲輕洗（低功率，不超過30s），徹d去除吸附層；電極發(fā)黑、鍍層脫落及時(shí)更換。

　　管路沖洗（帶自動(dòng)清洗機(jī)型）

　　運(yùn)行整機(jī)自動(dòng)清洗程序，沖洗內(nèi)置輸送管路，防止管路內(nèi)壁沉積樣品造成交叉污染。

　　線路檢查

　　查看數(shù)據(jù)線、高壓電源線無擠壓破損，接口無液體腐蝕氧化痕跡。

　　三、月度保養(yǎng)

　　基線與光路校準(zhǔn)

　　使用標(biāo)準(zhǔn)納米標(biāo)樣（如100nm乳膠顆粒）做粒徑校準(zhǔn)，核對(duì)平均粒徑、PDI是否在標(biāo)準(zhǔn)范圍；偏差過大代表光路污染或光路偏移。

　　高壓電泳系統(tǒng)檢查

　　空載運(yùn)行電位程序，觀察電場(chǎng)電流是否穩(wěn)定；若電流忽高忽低，多為電極污染、毛細(xì)管堵塞，拆解清洗整套電泳組件。

　　整機(jī)散熱系統(tǒng)

　　吹掃儀器背部、底部散熱濾網(wǎng)灰塵，濾網(wǎng)堵塞會(huì)導(dǎo)致溫控精度下降、激光器過熱漂移。

　　耗材盤點(diǎn)更換

　　一次性耗材提前備貨；重復(fù)使用毛細(xì)管若出現(xiàn)內(nèi)壁劃痕、透光變差直接更換；老化密封圈更換，防止漏液滲入電路。

　　軟件與電腦維護(hù)

　　清理軟件緩存，備份測(cè)試數(shù)據(jù)；重啟工控電腦，檢查通訊連接穩(wěn)定，無斷連報(bào)錯(cuò)。

　　四、季度保養(yǎng)（專業(yè)級(jí)整機(jī)檢查）

　　光學(xué)系統(tǒng)全面檢查

　　檢查激光器輸出光強(qiáng)；透鏡、偏振片、接收鏡頭若有頑固有機(jī)污漬，用光學(xué)專用擦拭紙+異丙醇輕柔擦拭，晾干后復(fù)位。

　　溫控精度校驗(yàn)

　　配置標(biāo)準(zhǔn)25℃恒溫水，放入樣品座測(cè)試，核對(duì)儀器顯示溫度與實(shí)際溫差，誤差超過±0.2℃聯(lián)系工程師校準(zhǔn)帕爾貼模塊。

　　高壓電源檢測(cè)

　　工程師檢測(cè)電泳高壓輸出穩(wěn)定性，絕緣性能，消除漏電隱患；避免電解液滲入高壓電路板短路。

　　樣品倉密封件更換

　　遮光倉硅膠密封條老化硬化會(huì)漏光，造成基線噪聲升高，老化密封條整體更換。

　　內(nèi)部除塵

　　拆開儀器側(cè)蓋板，低壓氮?dú)獯祾咧靼濉⑾嚓P(guān)器、激光電源板粉塵，禁止觸碰電路板元器件。

　　五、年度保養(yǎng)（廠家上門大修）

　　激光器性能檢測(cè)，光強(qiáng)衰減超標(biāo)更換激光模組；

　　PMT光電倍增管性能校驗(yàn)，信號(hào)靈敏度衰減則更換；

　　數(shù)字相關(guān)器硬件檢測(cè)，消除信號(hào)計(jì)算誤差；

　　整機(jī)幾何光路重新對(duì)焦、校準(zhǔn)散射接收角度；

　　高壓電路絕緣耐壓測(cè)試，排查線路老化隱患；

　　全套易損件批量更換：電極、毛細(xì)管、密封圈、散熱風(fēng)扇；

　　出具整機(jī)校準(zhǔn)報(bào)告，完成儀器計(jì)量校驗(yàn)。

　　六、分單元專項(xiàng)保養(yǎng)重點(diǎn)

　　（一）DLS粒徑測(cè)試單元

　　禁止渾濁、大雜質(zhì)、高濃度樣品直接測(cè)試，易附著光學(xué)窗口；

　　石英比色皿不可高溫烘干、不可強(qiáng)酸強(qiáng)堿長(zhǎng)時(shí)間浸泡，避免腐蝕失透；

　　長(zhǎng)期不用，洗凈干燥后放入密封避光盒存放。

　　（二）Zeta電位電泳單元（故障高發(fā)區(qū)）

　　毛細(xì)管嚴(yán)禁干涸結(jié)晶，測(cè)試完畢必須沖洗；鹽結(jié)晶堵塞會(huì)直接報(bào)廢毛細(xì)管；

　　禁止強(qiáng)腐蝕性、高導(dǎo)電電解液長(zhǎng)時(shí)間加電場(chǎng)，加速電極損耗；

　　電極存放于純水環(huán)境，不可干燥長(zhǎng)期放置氧化發(fā)黑。

　　（三）激光與光路系統(tǒng)

　　全程避光操作，禁止強(qiáng)光直射檢測(cè)器；

　　禁止手觸摸任何光學(xué)鏡片，指紋油脂極難清理，永9影響測(cè)試精度；

　　避免儀器震動(dòng)、位移，光路偏移后數(shù)據(jù)全部失真。

　　七、長(zhǎng)期停機(jī)保養(yǎng)（停機(jī)7天以上）

　　徹d沖洗毛細(xì)管、比色皿支架，無任何樣品殘留；

　　電極浸泡于超純水容器中，防止氧化；

　　光學(xué)窗口清潔干燥，樣品倉關(guān)閉遮光；

　　所有管路排空，無積水，避免滋生藻類、鹽結(jié)晶；

　　關(guān)閉總電源、電腦，用防塵罩遮蓋整機(jī)；

　　存放環(huán)境恒溫干燥，濕度40%–60%，避免潮濕腐蝕電路板。