本產品采用準動態測量法，可同時測量薄膜材料的 seebeck 系數和電阻率，測溫范圍達到
80K~600K。
硬件特點
動態法測量 seebeck 系數，避免了靜態法測量在溫差測量上面的系統誤差，測量更準確
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采用雙向加熱系統，出現測試壞點，可以重新測試
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seebeck 系數和電阻率測量測量不共用電壓探針，避免出現微型熱電偶斷裂失效的問題
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軟件操作簡單，智能化可實現手動、自動模式
提供商 |
上海昊擴科學器材有限公司 |
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231次 |
資料大小 |
487.4KB |
資料類型 |
PDF 文件
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資料圖片 |
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