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上海昊擴科學器材有限公司
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首頁 >> 資料下載 >> 微-納米薄膜熱導率測量-薄膜熱導率測試系統（TCT）
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本儀器采用 3ω測試方法， 利用微/納米薄膜材料導熱引起加熱器電信號的變化來檢測其熱導率。主要應用范圍為微/納米薄膜材料的熱導率測量，可廣泛應用于輔助各種功能薄膜材料的研究與開發，其涵蓋范圍包括高等院校及科研院所、集成電路散熱材料、航空航天材料、熱電材料與器件、信息存儲與光電器件。
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