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上海昊擴科學器材有限公司
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首頁 >> 資料下載 >> 薄膜無損檢測 相變溫度和熱膨脹系數-光功率熱分析儀(OPA)
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本儀器為無損檢測,并可同時檢測材料的相變溫度和熱膨脹系數。OPA 的研發成功,一舉*補了無損檢測納米級薄膜材料相變溫度和熱膨脹系數的性*, 能測量低至5nm的薄膜材料。本儀器擁有多項發明,具有獨立知識產權。
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