美國AMETEK阿美特克液位計
AMETEK-DREXELBROOK是美國阿美特克集團公司旗下52家子公司之一。阿美特克DE位于美國賓夕法尼亞州,是世界的物位,液位儀表生產制造廠商。四十余年的不懈努力使我們的產品享譽。AMETEK-DREXELBROOK的產品被廣泛應用于石油,化工,電力,水利,食品,醫藥,造紙,采礦,汽車等眾多行業。AMETEK-DREXELBROOK的威望得益于獨到地將工業應用技術,創新的產品設計與多種測量技術融為一體。AMETEK-DREXELBROOK公司開拓并繼續發展射頻導納液位裝置,并提供高水平的超聲波式,磁致伸縮式,靜壓式,雷達式和導波雷達式液位裝置,全面的產品系列使得AMETEK-DREXELBROOK能夠為客戶提供良好的液位或流量測量方案,無論是zui基本的工業應用領域還是zui復雜的應用領域。
AMETEK-DREXELBROOK在電力工業中的典型應用包括:控制給水加熱器中的水位,控制低壓鍋爐的液位,控制擦洗器,監視體積和控制石灰泥漿混合物,控制沉淀器漏斗,控制煤粉,監視酸液體積,維持燃油體積,監視水輪機潤滑油中的含水量百分比,控制冷卻水的水位,探測斜槽中的塞子,監視粉塵倉,滲漏容器
美國
AMETEK阿美特克分析儀
詳細內容
AMETEK
阿美特克發生器
305010901S
AMETEK
氧化鋯傳感器
71785SE
AMETEK
過濾器
71849SE
AMETEK
鏡頭
CH13-0007-t
AMETEK
電路板
13-0307
AMETEK
鉑電阻
13-0236
氧化鋯鋯管
AMETEK71785SE
AMETEK
比值分析儀測量池
880324901
AMETEK
比值分析儀檢測電路板
880020901
AMETEK
阿美特克比值分析儀配件
200880001
AMETEK269323011
AMETEK
阿美特克溫度控制器
269323011
AMETEK
煙塵儀
4200
AMETEK
阿美特克
74422SE
AMETEK
射頻導納液位計
UP010620B1
AMETEK
鎘燈
300-2070
AMETEK
氧化鋯頭
71063SE
AMETEK
阿美特克過濾組件
100-1848
AMETEK
阿美特克濾芯
300-6217
AMETEK
阿美特克氧化鋯
WDG1210/Insitu 72"
AMETEK
阿美特克露點儀
3050
AMETEK
阿美特克氣體分析儀
Thermox-CMFA-P2000
AMETEK
阿美特克
500124901
AMETEK
阿美特克硫磺比值儀
光源電源
880107902S
阿美特克硫磺比值儀
光源觸發器
880118901
AMETEK
阿美特克線性傳感器
P-10A-10KA238
AMETEK
阿美特克壓力模塊
APM002C
AMETEK
阿美特克過濾器
74422se
AMETEK
阿美特克儲存箱
880060901S
AMETEK H2S
分析儀
H2S
分析儀
933-
光源鎘燈
-300-2070
H2S
分析儀
933-
空心陰極銅線燈
-300-8707
AMETEK
阿美特克馬達
119153-54
AMETEK
阿美特克馬達
ELECTRONICALLY PROTECTED L 240v 50/60Hz 10. u.s,pATENT #6,756,713
AMETEK356010
,
PRESSURE GAUGE/4"
×
4"
~
100psi\P656
,
GAUGE
,
AMETEK
阿美特克鋯頭
71785SE
AMETEK
阿美特克冷鏡式水露點分析儀
13-1200-L-N-2
AMETEK
阿美特克氧化鋯過濾器
74422SE
AMETEK
阿美特克
305400901S
AMETEK
阿美特克
超聲波液位計
US-21
AMETEK
便攜式煙氣分析儀
cmfa-p2000
AMETEK
阿美特克氧量分析儀
|WDG1210|Insitu-72|
AMETEK
氣體分析儀
CMFA-P2000
AMETEK
可燃性氣體分析儀用顯示模組
90219VE
AMETEK
氧氣分析儀用取樣探棒
70049SE
AMETEK
電源
/
鍵盤模塊
90253VE
AMETEK WDG1210/lnsitu-36"
AMETEK
過濾器
72346SE
AMETEK
前箍
169JE
AMETEK
后箍
010JE
AMETEK
阿美特克
200886002
AMETEK
阿美特克
880020901
AMETEK
阿美特克鉑電阻
13-0236
AMETEK
阿美特克電路板
13-0307
AMETEK
阿美特克鏡頭
CH13-0007-t
AMETEK
過濾器
71849SE
AMETEK
氧化鋯傳感器
71785SE
阿美特克
933
硫化氫分析儀
銅燈
300-8707
鎘燈
300-2070
AMETEK
熱電偶
SC4326-NR-FC
阿美特克天然氣露點儀
13-100-C-N-025
阿美特克
Dew Point Testers-
冷鏡式露點分
析儀
)
(
-30 to 110
°
F
)
AMETEK
濕氣發生器
305010901S
AMETEK
干燥器
305400901S
\3050-OLV
AMETEK
氧化鋯頭
71063SE
AMETEK
取樣過濾器
71072SE
AMETEK
氧化鋯室
70597SE
阿美特克露點儀
13-1210-C-N-2
AMETEK
濕氣發生器
305010901S
A METEK
濕氣發生器
305010901S
AMETEK
干燥器
305400901S
AMETEK
氧化鋯傳感器
71785SE
AMETEK
過濾器
71849SE
AMETEK
鏡頭
CH13-0007-t
AMETEK
電路板
13-0307
AMETEK
鉑電阻
13-0236
AMETEK 880020901
AMETEK 200886002
阿美特克電機電板
型號
pn100-1662
阿美特克在線分析儀表配件
3050
水分析儀
校驗管
305431901S
阿美特克
71862SE
AMETEK FIRE HORN
FIRE HORN\NT2
-
24D\
φ
100\AMETEK FIRE HORN,TYPE:NT2-24D,VOLTAGE RATING:24VDC,SIZE:
Φ
100mm,EXPLOSION-PROOF CLASS:CLASS
Ⅱ
AMETEK
微量水分儀電解池
303372908s
AMETEK
干燥器型號
3050-OLV
干燥器
部件號
305400901S\3050-OLV
AMETEK 95384WE
氧量分析儀毫伏導線
ametek
型號
388-11032
序列號:
P-2087
阿美特克主機
P/N:13-1200-C-N-2
配件:
P/N:CHP-0535
阿美特克
P/N:CHP-0536
阿美特克
P/N:CH13-0054
阿美特克
P/N:CHC08435
阿美特克
P/N:CH13-2277
阿美特克
融融指數測試儀
MFI-10
阿美特克碤玻漓窗
2008887001
阿美特克密封墊
880042001
阿美特克
o
型圈
202813026
阿美特克
P/N:300.8707
阿美特克
P/N:300.2070
阿美特克
P/N:300.9437
阿美特克
P/N:100.0515
阿美特克
P/N:305010901S
阿美特克
P/N:305110901S
阿美特克
P/N:305449901S
阿美特克
P/N:305400901S
阿美特克
P/N:300.9147
阿美特克
P/N:305900901
阿美特克
P/N:3051229035
阿美特克
P/N:305648901
阿美特克
P/N:3054S0901S
阿美特克
P/N:305644901
阿美特克
P/N:3054319015
阿美特克
P/N:100.1662
阿美特克
P/N:100.1771
阿美特克
P/N:100.1578
阿美特克
P/N:301.1078
阿美特克
P/N:100.1848
尤
工:
阿美特克
P/N:300.4511
阿美特克
P/N:300.4753
1505951136
阿美特克
P/N:300.5728
阿美特克
O
型圈
(
H2S
在線分析儀)
P/N:300.2375
1505951136
阿
美特克
P/N:100.0666
阿美特克
氧量探頭
71785SE
阿美特克
阿美特克的
零點干燥器
\PN305617901S
\3050-SLR
用
阿美特克的
干燥器
\PN305400901S
\3050-SLR
用
阿美特克的
濕氣發生器
\305010901S\-J
阿美特克電機電板
型號
pn100-1662
阿美特克在線分析儀表配件
3050
水分析儀
校驗管
305431901S
阿美特克
AMETEK
保險絲(
H2S
在線分析儀)
1A
,
300-9244
阿美特克
AMETEK
保險絲(
H2S
在線分析儀)
6.3A
,
300-6291
美國AMETEK阿美特克氧化鋯探頭鏡面式
不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會結露。采用光電檢測技術,檢測出露層并測量結露時的溫度,
美國AMETEK阿美特克氧化鋯探頭冷鏡式露點儀
直接顯示露點。鏡面制冷的方法有:半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。鏡面式露點儀采用的是直接測量方法,在保證檢露準確、鏡面制冷率和精密測量結露溫度前提下,該種露點儀可作為標準露點儀使用。目前上zui高精度達到±0.1℃(露點溫度),一般精度可達到±0.5℃以內電傳感器式露美國AMETEK阿美特克氧化鋯探頭點儀
采用親水性材料或憎水性材料作為介質,構成電容或電阻,在含水份的氣體流經后,介電常數或電導率發生相應變化,測出當時的電容值或電阻值,就能知道當時的氣體水份含量。建立在露點單位制上設計的該類傳感器,構成了電傳感器式露點分析儀。目前上zui高精度達到±1.0℃(露點溫度),一般精度可達到±3℃以內。
美國AMETEK阿美特克氧化鋯探頭電解法露點儀
利用五氧化二磷等材料吸濕后分解成極性分子,從而在電極上積累電荷的特性,設計出建立在含濕量單位制上的電解法微水份儀。
晶體振蕩式露點儀
利用晶體沾濕后振蕩頻率改變的特性,可以設計晶體振蕩式露點儀。這是一項較新的技術,尚處于不十分成熟的階段。國外有相關產品,但精度較差且成本很高。
美國AMETEK阿美特克氧化鋯探頭紅外露點儀
利用氣體中的水份對紅外光譜吸收的特性,可以設計紅外式露點儀。該儀器很難測到低露點,主要是紅外探測器的峰值探測率還不能達到微量水吸收的量級,還有氣體中其他成份含量對紅外光譜吸收的干擾。但這是一項很新的技術,對于環境氣體水份含量的非接觸式在線監測具有重要的意義。
美國AMETEK阿美特克氧化鋯探頭半導體傳感器
每個水分子都具有其自然振動頻率,當它進入半導體晶格的空隙時,就和受到充電激勵的晶格產生共振,其共振頻率與水的摩爾數成正比。水分子的共振能使半導體結放出自由電子,從而使晶格的導電率增大,阻抗減小。利用這一特性設計的半導體露點儀可測到-100℃露點的微量水份。美國AMETEK阿美特克氧化鋯探頭美國AMETEK阿美特克氧化鋯探頭 Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 掃描振動電極測試 Scanning Kelvin Probe (SKP) 掃描開爾文探針測試 Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微區電化學阻抗測試 Scanning Droplet Cell (SDC) 掃描電解液微滴測試 Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非觸式光學微區形貌測試 以上每項技術使用不同的測量探針,且安裝位置與樣品非常接近,但是不接觸到樣品。隨著探針測試的進行,改變探針的空間位置。然后將所記錄的數據對探針位置作圖,針對不同技術,該圖可以呈現微區電化學電流,阻抗,相對功函或者是表面形貌圖。
美國AMETEK阿美特克氧化鋯探頭應用:
不銹鋼和鋁等材料的點蝕檢測、成長過程在線監測等;
有機和金屬涂層缺陷和完整性研究;
金屬/有機涂層界面的腐蝕的機制與檢測;
有機涂層的剝離和脫落機制;
鈍化處理的不銹鋼焊接熱影響區的電位分布;
干濕循環的碳鋼和不銹鋼的陰極區和陽極區的分布行為;
薄液層下氧還原反應和金屬的腐蝕過程的特征;
模擬不同大氣環境的腐蝕電位在線監測;
鋁合金等材料在大氣環境中局部腐蝕敏感性;
鋁合金的絲狀腐蝕(filiform corrosion);
硅烷L-B膜修飾金屬表面的結構和穩定性;
鋅-鐵偶合金屬界面區的電位分布特征;
磷化處理鋅表面的碳微粒污染檢測;
檢測微小金屬表面的應力分布和應力腐蝕開裂;
檢測金屬和半導體材料微小區域的表面清潔度,缺陷,損傷和均勻程度;
研究和評價氣相緩蝕劑性能;
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