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德國布魯克: 分析儀器-高分辨 XRD射線衍射儀

美國力可儀器: 進口氧氮氫聯合測定儀力可碳硫分析儀

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蔡司SEM掃描電鏡: 掃描電鏡

梅特勒儀器: 水分儀 DSC

化學分析儀器回收: 二手化學儀器回收

美國AB: 三重四極桿串聯質譜儀

北京吉天儀器: 原子熒光光度計

萊伯泰科: 測汞儀微波消解儀

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島津熒光光譜儀EDX應對塑膠中的cd

時間：2026/3/12閱讀：486

島津 EDX（能量色散 X 射線熒光光譜儀）是塑膠中鎘（Cd）快速篩選的工具，可無損、快速、多元素同步檢測，滿足 RoHS 等法規篩查要求。以下是完整操作與合規應對方案。

一、核心原理與適用范圍

原理：高能 X 射線激發樣品原子，Cd 原子發射特征能量熒光（約 3.13 keV），通過能量與強度定性、定量。
適用：各類塑膠（ABS、PE、PP、PVC 等）、橡膠、涂料、油墨；滿足RoHS（Cd≤100 ppm）、中國 RoHS 2.0、GB/T 26125等標準。
性能：Cd 檢出限約4.7–10 ppm，測試時間60–300 秒 / 樣，無需化學前處理。

二、儀器型號與配置（島津主流機型）

EDX-7200/8000：高分辨率 SDD 檢測器，適合高精度定量與復雜基體。
EDX-LE/LE Plus：電子制冷、無液氮，專為 RoHS/ELV 快速篩查設計。
關鍵配置：

管壓：50 kV（Cd 激發）
濾光片：Al/Cu 復合濾片（降低背景、提升 Cd 峰信噪比）
準直器：φ3 mm/φ10 mm（依樣品大小選擇）
環境：空氣氛圍（塑膠 Cd 檢測無需抽真空）

三、樣品制備（塑膠 Cd 檢測關鍵）

樣品要求

厚度：≥5 mm（避免 X 射線穿透不足導致結果偏低）
表面：平整、無油污、無涂層；涂層需剝離或單獨測試
尺寸：≤儀器樣品腔（EDX-7200 約370×320×155 mm）

制樣方法

塊狀：直接放入樣品杯，底部鋪滿、無空隙
顆粒 / 粉末：壓片（10–15 MPa）或裝入樣品杯壓實，保證均勻性
薄膜 / 薄片：多層疊加至≥5 mm，或用空白塑膠基底襯墊

四、檢測方法（兩種模式）

1. 快速篩查（無標樣 FP 法，適合批量初篩）

步驟：

開機預熱30 min，執行能量校準與漂移校正
選擇塑膠基體、RoHS/Cd 分析方法
放入樣品，設置測試時間100–180 s
運行，儀器自動定性 + FP 法定量

判定：

<70 ppm：合格（RoHS 閾值 100 ppm，留安全余量）
70–100 ppm：可疑，需復測或用標準曲線法驗證
>100 ppm：不合格，需進一步化學法（AAS/ICP）確證

2. 準確定量（標準曲線法，適合結果復核）

標準物質：ERM-EC680/681k、NIST SRM 2584 等塑膠基體 Cd 標準品
曲線建立：

濃度點：0、50、100、250、500、1000 ppm（覆蓋 RoHS 范圍）
擬合：線性 / 二次擬合，相關系數R2≥0.995

測試：同篩查流程，用標準曲線計算結果，** 回收率 90–110%** 為合格

五、干擾與校正（塑膠 Cd 檢測常見問題）

譜線重疊干擾

用Cd Kα (3.13 keV) 為主峰，Cd Kβ (3.32 keV) 復核
儀器軟件開啟譜線剝離 /deconvolution功能
高 Br/Pb 樣品，適當延長測試時間（200–300 s）

主要干擾：Pb (Lα 2.42 keV)、Br (Kα 1.49 keV)、Sn、Sb
對策：

基體效應（吸收 / 增強）

用基本參數法（FP）自動校正
標準樣品與待測樣品基體匹配（同為 PP/ABS 等）
保證樣品厚度≥飽和厚度（塑膠約5–10 mm）

高填充劑（CaCO?、TiO?）會吸收 Cd 熒光，導致結果偏低
對策：

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六、質量控制與合規要點

日常質控

每批次測試前用質控樣（如 50 ppm Cd 塑膠）核查，誤差≤±10%
每日做能量校準，每周做漂移校正
樣品平行測試 2 次，RSD≤5%

合規文件

記錄：儀器日志、校準記錄、樣品信息、測試數據、質控結果
報告：包含樣品信息、方法、儀器型號、測試條件、結果、判定依據
標準：遵循GB/T 26125-2011、IEC 62321、RoHS 2.0

七、常見問題與解決

結果偏低：樣品太薄、表面有涂層、基體吸收強 → 加厚樣品、去涂層、FP 校正
峰形差、信噪比低：測試時間短、濾光片不當 → 延長時間、更換 Al/Cu 濾片
重復性差：樣品不均勻、放置不穩 → 壓片 / 壓實、固定樣品位置

八、與化學法對比（EDX 優勢）

EDX：無損、快速（1–5 min）、多元素同步、無需前處理、成本低；適合篩查
AAS/ICP：破壞性、前處理復雜（消解）、耗時（數小時）、精度更高；適合確證
建議流程：EDX 初篩 → 超標 / 可疑 → AAS/ICP 確證

九、島津 EDX 塑膠 Cd 檢測標準操作流程（SOP）

儀器準備：開機預熱、能量校準、漂移校正
樣品制備：平整、厚度≥5 mm、無油污
方法選擇：篩查用 FP 法，準確定量用標準曲線法
測試：放入樣品，設置時間 100–180 s，運行
結果判定：<70 ppm 合格，70–100 ppm 復測，>100 ppm 化學法確證
記錄與報告：完整記錄，出具合規報告

島津熒光光譜儀EDX應對塑膠中的cd

一、核心原理與適用范圍

二、儀器型號與配置（島津主流機型）

三、樣品制備（塑膠 Cd 檢測關鍵）

四、檢測方法（兩種模式）

1. 快速篩查（無標樣 FP 法，適合批量初篩）

2. 準確定量（標準曲線法，適合結果復核）

五、干擾與校正（塑膠 Cd 檢測常見問題）

六、質量控制與合規要點

七、常見問題與解決

八、與化學法對比（EDX 優勢）

九、島津 EDX 塑膠 Cd 檢測標準操作流程（SOP）

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