產品名稱：OKO波前傳感器UI-1540LE
產品型號：UI-1540LE
品牌分類：波前傳感器
產品介紹：
OKO波前傳感器UI-1540LE是基于Shack-Hartmann原理的高性能波前測量設備，采用digital CMOS傳感器，具備高精度、動態測量和靈活配置等特點，適用于自適應光學、激光通信和光學測試等領域。
性能特點：
高精度測量：憑借高分辨率CMOS傳感器和優化的微透鏡陣列設計，UI-1540LE能夠實現高精度的波前測量，滿足自適應光學、激光通信等領域對波前精度的嚴格要求。
動態測量能力：較高的掃描頻率和閉環速度使得UI-1540LE能夠實時捕捉動態波前變化，適用于需要快速反饋控制的場景。
靈活配置：OKO公司提供多種相機、哈特曼掩模和微透鏡陣列選項，用戶可根據實際需求定制波前傳感器，滿足不同應用場景的個性化需求。
易于集成：UI-1540LE采用標準的數據接口和通信協議，便于與其他光學設備和控制系統集成，降低系統開發和維護成本。
技術參數：
產地：荷蘭
相機型號與類型：UI-1540LE，采用digital CMOS傳感器。
相面尺寸：1/2英寸，空間分辨率為5.2微米，CCD分辨率為1280 x 1024像素。
數據接口：支持USB 2.0接口，確保數據傳輸的穩定性和速度。
微透鏡陣列參數：
像元幾何形狀：正方形，像素行距為150微米。
像素焦距：10毫米，通光孔徑不超過4.5毫米。
采樣點：most多可達700個，提供高精度的波前測量。
測量性能：
max傾斜量：在快速搜索模式下為0.014弧度，確保對波前傾斜的準確捕捉。
重復性：RMS值為λ/150，P-V值為λ/20，保證測量的穩定性和可靠性。
掃描頻率：不低于25幀/秒，適用于動態波前測量。
閉環速度：10幀/秒，滿足實時反饋控制的需求。
Zernike項數：支持most多300項Zernike多項式擬合，整體描述波前像差。
光譜范圍：400至1000納米，覆蓋可見光到近紅外波段，適用于多種光學系統。
產地 | 荷蘭 |
相機型號與類型 | UI-1540LE，采用digital CMOS傳感器。 |
相面尺寸 | 1/2英寸，空間分辨率為5.2微米，CCD分辨率為1280 x 1024像素。 |
數據接口 | 支持USB 2.0接口，確保數據傳輸的穩定性和速度。 |
微透鏡陣列參數 | 像元幾何形狀：正方形，像素行距為150微米。 |
像素焦距：10毫米，通光孔徑不超過4.5毫米。 | |
采樣點：most多可達700個，提供高精度的波前測量。 | |
測量性能 | max傾斜量：在快速搜索模式下為0.014弧度，確保對波前傾斜的準確捕捉。 |
重復性：RMS值為λ/150，P-V值為λ/20，保證測量的穩定性和可靠性。 | |
掃描頻率：不低于25幀/秒，適用于動態波前測量。 | |
閉環速度：10幀/秒，滿足實時反饋控制的需求。 | |
Zernike項數：支持most多300項Zernike多項式擬合，整體描述波前像差。 | |
光譜范圍 | 400至1000納米，覆蓋可見光到近紅外波段，適用于多種光學系統。 |
產品應用：
自適應光學系統：作為自適應光學系統的核心部件，UI-1540LE能夠實時測量波前像差，為變形鏡提供準確的反饋控制信號，實現光學像差的動態校正。
激光通信：在激光通信系統中，UI-1540LE可用于測量激光束的波前畸變，優化光束質量，提高通信效率和可靠性。
光學測試與測量：UI-1540LE還可用于光學系統的測試與測量，如評估光學元件的加工質量、檢測光學系統的像差等。
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