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篤摯儀器（上海）有限公司
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SurtronicS128是英國泰勒霍普森（TaylorHobson）SurtronicS100系列中的一款高性能便攜式粗糙度儀，旨在為制造業(yè)提供一款兼具高精度、高耐用性和高性價比的表面檢測解決方案。作為經(jīng)典款Surtronic25的升級替代產(chǎn)品，S128繼承了泰勒霍普森一貫的品質(zhì)，并在功能集成與操作體驗上進行了顯著優(yōu)化，廣泛適用于機械加工車間、工業(yè)生產(chǎn)線及計量檢測室等多種環(huán)境。SurtronicS128采用緊湊一體化的人體工程學設(shè)計，整機重量僅約500克，操作者可輕松單手握持進行測量。儀器內(nèi)置
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SurtronicDUO是英國泰勒霍普森（TaylorHobson）推出的一款革命性便攜式表面粗糙度測量儀，專為滿足現(xiàn)代制造業(yè)對靈活性、精度和易用性的嚴苛需求而設(shè)計。作為表面計量領(lǐng)域，泰勒霍普森將百年技術(shù)積淀融入這款創(chuàng)新產(chǎn)品，使其成為車間現(xiàn)場、實驗室及戶外檢測的理想選擇。SurtronicDUO的亮點在其獨特的分體式結(jié)構(gòu)設(shè)計。儀器由顯示控制單元和驅(qū)動測量單元兩部分組成，兩者通過穩(wěn)定的藍牙無線技術(shù)進行通信，擺脫了傳統(tǒng)手持式粗糙度儀線纜的束縛。這種設(shè)計使得操作者可以輕松地將小巧的驅(qū)動單元伸入狹窄、深
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菲希爾測厚儀DUALSCOPEFMP20是DUALSCOPE系列的雙功能入門級機型，集成磁感應(yīng)法（符合DINENISO2178，測鐵磁性基材上非磁性涂層，如鋼上的鋅、油漆）與電渦流法（符合DINENISO2360，測非鐵磁性金屬基材上非導電涂層，如鋁上的陽極氧化膜、油漆）；可自動識別鐵磁（F）/非鐵磁（NF）基材與即插即用的智能探頭，無需手動切換模式，還能同步測量鋼鐵上油漆+鋅雙層涂層（鋅層≥70μm時）并分別顯示。關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)顯示與操作：240×160像素（60×30mm）高對比度彩色LCD，
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FISCHER X射線測厚儀 X-RAY XDLM237信息
菲希爾X射線測厚儀FISCHERXDLM237采用能量色散X射線熒光（EDXRF），無損測量鍍層厚度與多元素成分；自上而下的測量方向，適配不平整小零件；結(jié)合菲希爾DCM距離補償，可簡化不同高度/距離的樣品測量。標配WinFTM®專業(yè)軟件，符合DINISO3497、ASTMB568標準；具備基本參數(shù)法（FP），無需標準樣也可做定量分析。與同系列231（平面臺+電動Z）、232（手動XY+電動Z）的核心區(qū)別：防護蓋開啟時XY臺自動移出至裝卸位，實現(xiàn)批量自動化測量。關(guān)鍵硬件參數(shù)X射線源：微聚焦鎢靶射線 -
泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC DUO產(chǎn)品資料
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONICDUO分體式藍牙雙單元：顯示/控制單元與測量驅(qū)動單元可分離，藍牙通信距離約20m，能伸入狹小空間測量，主機在手上看數(shù)據(jù)；DUO初代曾用紅外，DUOII全面升級藍牙；機身可組合成一體手持，尺寸小巧（125×80×38mm，約200g），IP防護適合車間環(huán)境。泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONICDUO操作極簡：單鍵觸發(fā)完整測量循環(huán)（約5秒），2.4英寸日光可讀彩色LCD，支持圖形化顯示表面輪廓；有觸覺測量按鈕，盲觸也能操作。傳感器系統(tǒng)：壓電式傳感器，金剛石測 -
馬爾便攜式粗糙度儀MARSURFM300核心技術(shù)參數(shù)測量原理：觸針電感式，標準測頭PHT6-350/2μm，測針半徑2μm，測量力約0.7mN；量程350μm；輪廓分辨率8nm；掃描速度0.5mm/s截止與行程：截止波長0.25/0.8/2.5mm；ISO行程1.75/5.6/17.5mm；MOTIF行程1/2/4/8/12/16mm；取樣長度1–5段可選；支持高斯/Ls濾波器參數(shù)標準：全面支持ISO、ASME、JIS、MOTIF；可測Ra、Rq、Rz、Rmax、Rt、R3z、Rk、Rpk、Rv
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菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXDL240典型應(yīng)用場景電子行業(yè)：PCB的ENIG/OSP、電鍍通孔、連接器鍍層（Au、Ni、Pd、Sn等）。電鍍行業(yè)：五金裝飾鉻、功能性鍍層（Ni/Cu/Zn）、多層復合鍍層質(zhì)量控制。半導體/元器件：引線框架、焊盤、薄膜厚度與成分分析。深腔/異形件：凹槽、盲孔、腔體內(nèi)部鍍層測量（DCM技術(shù)核心價值）。菲希爾X射線測厚儀型號核心差異定位XDL210（已停產(chǎn)）基礎(chǔ)型，手動/簡易平臺入門、小批量XDL230中型電動平臺，常規(guī)DCM通用型XDL240
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泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S128產(chǎn)品信息
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONICS128核心特點創(chuàng)新分體式結(jié)構(gòu)顯示/控制裝置與驅(qū)動裝置通過滑軌和鎖定裝置分離，支持藍牙通信配備觸覺測量按鈕，可輕松應(yīng)對深孔、凹槽、臺階等難測位置兩部分組合時僅1kg，便于攜帶和單手操作一鍵式智能測量紅色測量鍵一鍵啟動，約5秒完成測量循環(huán)無需復雜設(shè)置或編程，開機即用，幾乎不需要操作員培訓結(jié)果自動保存，可隨時切換顯示多個參數(shù)可靠測量系統(tǒng)耐磨金剛石測針（標準測尖半徑5μm），測量力僅200mg，保護工件表面高靈敏度壓電傳感器，精準捕捉表面微觀形貌變化符合ISO428
