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核心定位德國菲希爾(Fischer)MP0R便攜式涂層測厚儀是一款專為現場精準測量設計的袖珍型設備,憑借電磁感應與渦流法自動切換技術,實現磁性與非磁性金屬基材上各類涂層的無損檢測,兼具便攜性與專業性,廣泛適配工業質檢、制造業加工等多場景需求。關鍵特性雙測量模式自動切換:集成磁感應法(符合DINEN2178標準)與渦流法(符合DINEN2360標準),可自動識別鋼鐵、鋁、銅等基材類型,無需手動切換即可測量電鍍層、油漆、陽極氧化膜等多種涂層厚度,適配0-2000μm的寬量程范圍。高精度與穩定性:測量
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API激光跟蹤儀(如Radian系列)采用絕對距離測量(ADM)與干涉測距(IFM)雙模式融合技術,兼顧高速動態跟蹤與超高靜態精度。其典型測量范圍可達80米,角度精度優于±15微弧度,距離精度可達±10微米+0.2微米/米。設備支持六自由度(6DoF)測量選件,無需頻繁轉站即可完成復雜結構的整體空間定位,顯著提升大型裝配體的檢測效率。該儀器具備出色的便攜性與環境適應性,可在車間、裝配線甚至戶外現場穩定運行。配套的SpatialAnalyzer®軟件提供*的數據分析、擬合與報告生成功能,支持與CA
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作為泰勒?霍普森Surtronic系列的旗艦便攜機型,S128粗糙度儀凝練數十年表面計量技術積淀,融合現代智能設計理念,專為高要求工業場景打造,堪稱“移動實驗室級”表面粗糙度測量的優選方案。儀器搭載高精度金剛石觸針傳感器,垂直分辨率達0.001μm,橫向最小采樣間距僅0.25μm,能精準捕捉微觀輪廓細節,輕松適配從普通機加工件到超精密光學元件的嚴苛測量需求。它全面兼容ISO、ASME、JIS、DIN等全球主流標準,支持Ra、Rz、Rsk、Rku、Rmr等100余種參數計算,可表征表面形貌特征。配
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SurtronicDUO在精密制造與質量控制領域,表面粗糙度直接關系到零部件的使用性能與使用壽命,是核心檢測參數之一。SurtronicDUO的核心優勢在于“接觸式+非接觸式”雙模式創新設計。傳統接觸式探針適配金屬、塑料等多數常規材料,測量精準穩定;創新非接觸光學傳感器則實現軟質、易劃傷或高光潔度表面(如鏡面、涂層、薄膜等)的無損檢測,從根源避免傳統探針可能造成的工件損傷。這種雙重適配性大幅拓寬了儀器應用邊界,無論是汽車發動機缸體、半導體封裝基板,還是各類精密零部件,均可高效適配檢測需求。設備搭
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Intra輪廓儀以“精度與便捷兼顧”的核心優勢,實現表面粗糙度、形狀與輪廓的一體化檢測,廣泛應用于航空航天、汽車制造等制造領域。儀器采用經典接觸式觸針測量技術,金剛石觸針半徑可選2μm或5μm,搭配*電子控制系統,兼顧微觀粗糙度與宏觀輪廓測量需求。垂直方向提供1mm、2mm、28mm三種量程配置,最高分辨率達4nm,水平行程50mm且直線度誤差低至0.20μm/20mm,能精準捕捉刀痕、微裂紋等細微特征。緊湊型設計讓儀器占用空間極小,適合集成到生產線或實驗室。直觀的觸摸屏界面搭配預設測量程序,無
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SurtronicDUO儀器核心采用耐磨金剛石測針搭配高感應度壓電傳感器,電機驅動測針穩定劃過被測表面,精準捕捉波峰波谷的垂直位移。這些機械信號經數字化處理后,通過標準化算法即時算出Ra、Rz、Rp等9個核心粗糙度參數,分辨率達0.01μm,精度控制在讀數的5%+0.1μm,確保測量結果可靠可追溯。2.4英寸LCD彩色屏幕讓測量數據清晰可見,即便在車間強光環境下也能輕松讀取。分體式結構設計堪稱亮點,通過滑軌和鎖定裝置可拆分顯示控制單元與驅動單元,搭配藍牙無線通信,輕松解決狹小空間或特殊位置的測量
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采礦勘探與資源評估中,及時獲取元素分析數據能顯著提升作業效率。尼通手持式分析儀憑借*的現場檢測能力,成為礦產勘探、品位控制和環境評估的理想工具,讓復雜的地球化學分析變得簡單高效。在勘探環節,尼通XL5Plus等型號搭載5WX射線管和石墨烯窗口檢測器,能精準檢測鎂至鈾范圍內的多種元素,包括稀土元素和痕量金屬。設備支持GIS/GPS定位功能,可將分析數據與地理位置信息結合,繪制精確的礦脈分布圖,幫助工作人員快速界定礦體邊界、判斷礦脈走向。現場10秒內即可獲得分析結果,大幅減少樣品送檢等待時間,降低勘
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產品定位G600是一款非接觸、亞微米級幾何精度測量系統,專為導軌、機床床身、大型工件及空間三維基準提供“直線度、平面度、平行度、垂直度”四合一快速檢測方案,是精密裝備制造、航空航天、軌道交通、半導體產線安裝與運維的“移動基準實驗室”。核心指標?直線度重復精度:±1μm/m(全程最高0.2μm/m,20°C±0.2°C恒溫下)?有效量程:單站0–30m,多站接力100m+?采樣頻率:2kHz,動態行走速度≤300mm/s仍保持全精度?激光源:632.8nm氦氖(He-Ne)或635nm半導體可選,

