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三菱化學(xué)四探針粉體電阻率測試儀MCP-PD51的介紹使用
閱讀：3807 發(fā)布時(shí)間：2021-11-30
三菱化學(xué)四探針粉體電阻率測試儀MCP-PD51的介紹使用
三菱化學(xué)四探針粉體電阻率測試儀MCP-PD51的介紹使用由深圳市福池電子科技有限公司*銷售三菱化學(xué)四探針粉體電阻率測試儀MCP-PD51的介紹使用，三菱化學(xué)四探針儀測試方法，傳感器MCP-T700精確。
用于研究開發(fā)、質(zhì)量管理第一線，執(zhí)行粉體之物性管理
與阻抗率計(jì)Loresta-GX(MCP-T700),Hiresta-UX(MCP-HT800)連接，以測定廣范圍之粉體之低阻抗、高阻抗
樣品的交換、清掃簡單、可采一觸式著離探頭
各種粉體的形狀，粒徑分布之不同依壓力依存性把握其阻抗率及壓縮容積
測定及數(shù)據(jù)、備有達(dá)執(zhí)行圖形化之軟件以供選購
原理：
通過使用粉專用探針，可以在任意壓力下測量導(dǎo)~絕緣的電阻率。 不是模擬一個(gè)粒子，而是模擬加壓成形的粒子的集合狀態(tài)，起因于填充特性
可以求出乘積電阻率。
測定對(duì)象：
碳基粉末…二次電池電極材料/活性炭/焦炭/石墨/炭黑/碳纖維/納米碳等
金屬粉…電池電極材料/銅粉等薄膜材料/導(dǎo)電性漿料等電路基板材料/導(dǎo)電性涂料/壓粉原料等
調(diào)色劑/樹脂/食品用粉類/陶瓷/粉涂料等絕緣性粉粉末粉體
電阻值：
低電阻10-3Ω~107Ω高電阻103Ω~1013Ω
測量方法：
低電阻四探針方式(電極間隔3mm )高電阻雙環(huán)法
