光矢量分析儀（OCI-V）是一款快速檢測(cè)光學(xué)器件損耗、色散和偏振等相關(guān)參數(shù)的光矢量分析儀。其原理是采用線性掃頻光源對(duì)待測(cè)器件進(jìn)行掃描，并結(jié)合相干檢測(cè)技術(shù)獲取待測(cè)器件的瓊斯矩陣，進(jìn)而獲得器件插損、色散、偏振相關(guān)損耗、偏振模色散等光學(xué)參數(shù)。該產(chǎn)品采用自有的光路設(shè)計(jì)以及先進(jìn)算法，實(shí)現(xiàn)智能校準(zhǔn)，操作簡(jiǎn)單，極大節(jié)省測(cè)試時(shí)間。
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