恒奧德儀薄層成像儀的操作使用原理

時(shí)間：2026-5-14閱讀：100

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恒奧德儀薄層成像儀的操作使用原理

主要基于?薄層色譜（TLC）分離技術(shù)?與?光學(xué)成像檢測技術(shù)?的結(jié)合，用于對(duì)薄層板上分離后的化合物斑點(diǎn)進(jìn)行?定性、定量及圖像分析?。其核心原理和操作流程如下：

?一、基本工作原理?

?分離原理?：樣品點(diǎn)在薄層板（固定相）上，通過流動(dòng)相（溶劑）在毛細(xì)作用下展開，各組分因與固定相的吸附/分配能力差異而分離，形成不同Rf值的斑點(diǎn)。

?檢測原理?：利用特定波長光源（如紫外、可見光）照射展開后的薄層板，通過檢測斑點(diǎn)的：

?吸收光?（反射/透射吸收法）

?熒光發(fā)射?（熒光斑點(diǎn)）

?熒光淬滅?（暗斑）

由高分辨率CCD或CMOS相機(jī)捕獲圖像，再經(jīng)專業(yè)軟件分析斑點(diǎn)位置、強(qiáng)度、面積等參數(shù)，實(shí)現(xiàn)定量與可視化。

?二、典型操作流程?

?樣品制備?

將待測樣品溶解，用毛細(xì)管或自動(dòng)點(diǎn)樣器點(diǎn)于薄層板上，干燥后放入展開室。

?薄層展開?

在密閉展開缸中，流動(dòng)相沿薄層板上升，帶動(dòng)樣品組分分離。

?上機(jī)成像?

將展開并干燥的薄層板置于成像儀暗箱內(nèi)中心位置。

安裝對(duì)應(yīng)光源（如254 nm / 365 nm紫外燈、白光燈），關(guān)閉艙門避免雜散光干擾。

?參數(shù)設(shè)置?

選擇檢測模式（反射/透射、吸收/熒光）。

設(shè)置波長、分辨率（通常20–200 μm/像素）、曝光時(shí)間、掃描區(qū)域。

?圖像采集?

啟動(dòng)相機(jī)（如12位高線性CCD），在無閃光燈條件下拍攝圖像，確保動(dòng)態(tài)或靜態(tài)成像清晰。

?圖像處理與分析?

使用專用軟件（如winCATS、Tstar、安卓App等）自動(dòng)：

校正背景與色彩

標(biāo)記斑點(diǎn)

計(jì)算Rf值、峰面積、百分含量

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