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LEEB281?非金屬金屬多層測厚儀應用
閱讀：113 發布時間：2026-4-28LEEB281非金屬金屬多層測厚儀應用
手持非金屬（金屬）多層測厚儀，帶數值顯示，A/B掃描功能。采用脈沖反射超聲波測厚原理，適用于能使超聲波以一恒定速度在其里面傳播，并能從其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂層厚度的測量。測量分辨率達0.001mm，測量范圍薄至0.02mm，可以同時測量涂層和基材的厚度。
本產品可應用于石油、化工、冶金、造船、航空航天、能源等各個領域。可測各種金屬，非金屬（玻璃，塑料，復合材料，混凝土，木材等）基材上涂層厚度，并兼具透過涂層測厚儀及金屬涂層測厚儀所有功能。
符合 標準《超聲波測厚儀校準規范》 JJF 1126-2004。
主要功能：
● 測量范圍寬，最小測量厚度,涂層20um，最大測量厚度1800mm；
● 可測每一層最薄0.02mm(20um)，對聲速2310m/s的塑料材料，0.05mm(50um)。對聲速低于1000m/s的涂層材料，最薄可測0.02mm(20um)，加基材測量厚度最厚可達1800mm，可以測十層復合層每一層的厚度但不限于十層(無數層)，且不限于涂層和基材的材質，任何材質均可以測量；
● 高精度測厚，最高測量分辨率可達0.001mm；重復分辨率可達±0.002mm；
● A-掃描模式，B-掃描模式，數值顯示模式；
● 具有穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料；
● 根據材料聲速不同可以檢測部分復合材料上的涂層和和漆層，可以同時測量10個以上的多層材料各層厚度，同一回波下切換顯示各層厚度值；
● 多種測量：THIN，MB-E，E-E，Auto模式滿足對常規厚工件測量;THIN E-E模式對薄涂層測量；
● 數值模式包括常規厚度值模式、差值/縮減率模式和最值模式；
● 增益模式：自動增益/手動增益；
● 可設置手動關機與自動關機，帶節能功能；
● 可使用多種不同規格探頭，雙晶探頭和單晶探頭，最高支持20Mhz高頻探頭；
● 支持大容量存儲，可同時存儲10萬個厚度值，500組A掃描波形和500組B掃描波形；
● 具有多種校準方式，支持一點校準、多點校準和手動校準模式，可以同時校準聲速和探頭零位；支持V聲程校準。
● 公英制轉換；毫米和英寸可切換單位；
● 中文和英文顯示；
適用材料：
測量金屬和非金屬（玻璃，復合材料，塑料，混凝土，木材等）基材上涂層厚度
適合測量金屬（如鋼、鑄鐵、鋁、銅等）、塑料、陶瓷、玻璃、樹脂、玻璃纖維及其他超聲波的良導體的厚度。
基本原理：
采用脈沖反射超聲波測厚原理，適用于能使超聲波以一恒定速度在其里面傳播，并能從其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂層厚度的測量。
規格參數：
項目
LEEB281
探頭類型
單晶/雙晶
測量范圍
20μm – 1800mm
測量頻率
4Hz、8Hz、16Hz
分辨率
0.1mm、0.01mm、0.001mm（0.01inch、0.001inch、0.0001inch）
脈沖發生器
負方波發射，脈沖寬度和電壓自動與探頭進行匹配
聲速范圍
400-19999m/s
校準試塊
4mm（鋼）
自動關機
可選擇5分鐘，10分鐘，20分鐘，手動關機
探頭校準
一點校準、二點校準，手動校準
增益
自動增益、手動增益
增益范圍
0~80dB
檢波方式
射頻RF、正半波POS、負半波NEG、全波FULL
測量模式
（1）THIN-EE:薄膜涂層模式（2）MB-E：發射脈沖始波至一次回波；（3）E-E：穿透涂層測量，可選任意Em– En回波；（4）THIN：薄壁測量模式
數值模式
厚度值模式、差值/縮減率模式、最大/最小值模式
A-掃描模式
支持
B-掃描模式
支持
耦合指示
支持
電量指示
支持
語言
中文/英文(English)
單位
毫米/英寸 (mm/inch)
菜單操作
支持
軟件功能
動態閘門設置、消隱設置(Blank)、回波消隱設置(E-Blank)、回波凍結、回波平移和縮放
存儲功能
同時支持10萬個厚度（100組，每組1000個），500組A掃描波形和500組B掃描波形
主機程序升級
支持主機程序升級
顯示屏
3.5寸真彩色屏
數據傳輸
支持USB通信，將數據傳輸至計算機
工作溫度
-10℃～＋50℃，有特殊要求可達-20℃
工作電壓
三節5號 鋰離子電池，當電量不足時，有低電壓提示
外形尺寸
184 x 85 x 32 (mm)
整機重量
250 g（不含電池）
標準配置
主機1臺、涂層專用探頭1個、5號鋰電池3節，充電器一個，隨機文件1套，防震防水儀器箱1個