X射線熒光光譜(X-Ray Fluorescence, XRF),是一種利用 X 射線激發樣品中原子的內層電子,并通過測量其發射出的特征 X 射線熒光來分析樣品元素組成的技術。它的基本過程可以為三步:①X射線照射樣品、②樣品中某些原子的內層電子被激發出去留下空穴、③外層電子躍遷填B這個空穴,同時釋放出具有特征能量的X射線。不同元素的原子結構不同,發射出的熒光 X 射線能量也不同。儀器通過識別這些特征能量,來判斷樣品中有哪些元素;再結合信號強度,進一步分析各元素的大致含量。XRF 的核心邏輯并不是看形貌、看價態,而是通過元素發出的“特征熒光信號",來識別樣品整體元素組成,就像是在“讀取材料的元素SFZ"。
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