憑借Sievers^®總有機碳TOC分析儀和超純水硼分析儀，Sievers分析儀能夠提供適合微電子制造工藝每一個步驟的分析解決方案。鑒于其寬廣的分析范圍和應用的多功能性，Sievers TOC分析儀可用于超純水、工藝化學品純度、回用水和廢水處理監測。由于在二氧化硅之前，硼先從樹脂床中泄漏出來，因此Sievers超純水硼分析儀可通過檢測硼濃度升高，實現二氧化硅的控制和樹脂床的管理。

有兩種常用于監測低濃度微電子應用中TOC的檢測技術：膜電導率（Membrane Conductometric）和直接電導率（Direct Conductometric）。Sievers的產品涵蓋了這兩種技術，此外還提供適合于更復雜基質（如工藝化學品和廢水）的濕化學氧化法。

我們可提供以下儀器和產品：

Sievers分析儀的產品組合為微電子制造過程的每個步驟提供分析解決方案。

2020年，Sievers推出了500 RLe的下一代產品Sievers M500e分析儀，改進包括：

另一款微電子應用的基本儀器是Sievers Boron Ultra在線超純水硼分析儀：

1. Godec, Richard D., “Monitoring and Controlling UPW Organic Nitrogen Contamination to Improve Immersion Photolithography Process Control.” Presented at ULTRAPURE WATER Conference, Portland, OR, November 2011, Tall Oaks Publishing, Inc.

2. Godec, Richard D.,”The Performance Comparison of Ultrapure Water TOC Analyzers using an Automated Standard Addition Apparatus.” Published and copyrighted by Semiconductor Pure Water and Chemical Conference, 2000 Proceedings.

3. Dunn R., “New Analytical Technique Promotes Elimination of Silica in Feed, Steam and Condensate Systems.”