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2026/07/27
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在半導體與納米電子器件表征、晶體管的關態電流測量、高阻材料電阻率測量、納米器件的電學特性、掃描探針顯微鏡等實驗中，當器件尺寸縮小到納米級別或材料非常薄時，漏電流和待測電流本身就極其微小。在這個級別，實驗者需要用到電流小于100fA的探針臺與各種噪聲和干擾作斗爭，包括熱噪聲、約翰1遜噪聲、振動噪聲，甚至空氣中分子電離產生的電荷。
