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2026/07/27
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鄭科探壓力控制系統，核心是通過微型探針臺提供可控腔體，由濕度控制與配比器精確模擬所需氣氛，并由源表同步測試樣品電學響應。系統集成真空度控制儀實現壓力閉環調控，從而在精確的氣壓、濕度環境下，研究材料或器件性能變化。這套系統適用于氣敏、半導體等科研領域的環境模擬與電學特性分析。
