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一、恒一自動維氏硬度計 EM500-2A用途說明：測定金屬、合金表面層及金屬內部組織機構的顯微維氏硬度及組織分析；鋼鐵零件及表面處理后的硬度和有效硬化層深度以及芯部硬度檢測；測定小件、薄件和鍍層等的硬度及鍍層深度等。
二、系統構成：自動顯微維氏硬度測量系統，型號EV500-2A型（VH500-2A+EA-2A）。
1.EA-2A型自動顯微維氏硬度測量系統是以恒一儀器有限公司生產的MH-500及VH-500型系列顯微，維氏硬度計為主機，配以EA-2A型 PC電腦控制自動硬度測量系統和硬度，有效硬化層深度以及芯部硬度檢測等應用軟件組成的自動顯微維氏硬度測量系統。
此系統同時適用顯微硬度計及維氏硬度計，組成半自動顯微/維氏(努氏)硬度測量系統。
2.EA-2A應用軟件
*圖像實時采集及顯示
*圖像測量定標及標定
*硬度測量和顯示
*點測量程序
*點間距離測量及與X軸夾角讀出程序
*定序測量程序
*軌跡測量程序
*有效硬化層深度及芯部硬度測量程序
3.CCD 圖象采集及電腦游標測量系統（130萬像素）
1) 本系統可以對顯微硬度計進行各物鏡及壓頭位置的轉換、以及自動打壓痕的全過程進行控制。
2) 本系統采用自動測量方法。此方法快捷準確，重復性*，更適合研究討論。有效的消除了因測量習慣不同而引起的人為測量誤差。本系統也可以用鼠標手動測量。
3）本系統的CCD攝像裝置裝在顯微硬度計的頂部，這樣既保證了在TV屏幕上壓痕的測量，也保證了在目鏡中樣品的全視域和真色彩的直接觀察。
4) 本系統采用圖象逼真放大裝置。在使用40倍物鏡時在TV屏幕上可得到放大近1600倍的高分辨率的樣品圖象。
5) 系統除了對數據及曲線用激光打印機打印出高質量的報告外，本系統還可打印出所觀察到樣品的形貌圖。
三、自動維氏硬度計技術規格
型號 | VH500-2A | |
測試載荷 | A型：1、2、3、5、10、20、30、50kgf D型：0.2、0.3、0.5、1、2、3、5、10kgf | |
加載機構 | 自動加載，自動卸載 50 微米 / 秒 | |
保載時間 | 5~99 秒 (任意設定) | |
塔臺機構 | 自動轉塔臺 | |
聚焦功能 | 手動聚焦 | |
物 鏡 | 標準配置為二個物鏡 ( 10倍 和 40倍) | |
屏幕放大倍數 | 1600倍 ( 40倍物鏡 ），400倍( 10倍物鏡 )， | |
允許測量長度 | 200 微米 (400倍位置) | |
最小測量單位 | 0.1微米 | |
允許樣品高度 | 200毫米 | |
允許樣品深度 | 160毫米 | |
金剛石壓頭 | HV一個 | |
測量硬度標尺 | HV / HK | |
手動載物臺 | 尺寸 | 200x 180mm |
有效行程 | 100x100毫米 | |
最小移動距離 | 1/100 毫米 | |
光源 | LED | |
光學功能 | 視場照明可調 32級 | |
精度 | 符合 中國計量檢定規程JJG 260-91, 日本工業標準 JIS B-7734, ISO146 及 美國材料測試協會ASTM E-384標準 | |
樣品表面粗糙度 | Ra≤0.4 | |
尺寸 | 寬226 深560 高660 毫米 | |
重量 | 50kg | |
電源提供 | 單向交流電 220伏 50赫 | |
四、自動維氏硬度計標準配置清單
序 號 | 內 容 | 數 量 |
EV500-2A型自動顯微維氏硬度測量系統 包括： | 1套 | |
1） | 數字顯微硬度計，型號VH500-2A | 1套 |
標準測試塊 (HV700,HV400,) | 各1塊 | |
金剛石壓頭 HV (內裝) | 1個 | |
電子式測量顯微鏡（帶10倍目鏡） | 1個 | |
40倍物鏡 | 1個 | |
10倍物鏡 | 1個 | |
LED冷光源照明系統 | 1套 | |
水平調整腳 | 4個 | |
水平儀 | 1個 | |
壓頭罩 (內裝) | 1個 | |
儀器罩 | 1個 | |
電源線 | 1根 | |
輔助工具 | 1套 | |
操作及保養手冊 | 1本 | |
附件箱 | 1個 | |
2） | 自動硬度測量系統 型號: EA-2A 包括： | 1套 |
自動物臺(200 ×180 mm, X / Y 移動距離0 – 100mm） | 1個 | |
操作系統：Microsoft Windows 10 CPU Intel Core2 i雙核/硬盤500G/內存4G | 1套 | |
19" LED彩色顯示器 | 1個 | |
130萬像素數字圖像采集裝置 | 1個 | |
激光打印機及打印軟件 Model: HP | 1臺 | |
EA-2A應用軟件 *圖像實時采集及顯示 *圖像測量定標及標定 *硬度測量和顯示 *點測量程序 *點間距離測量及與X軸夾角讀出程序 *定序測量程序 *軌跡測量程序 *有效硬化層深度及芯部硬度測量程序 | 1套 |
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