無錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設備。廣泛應用于半導體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領域。微處理器芯片測試裝置的日常維護知識
無錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機
給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。
是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設備。
廣泛應用于半導體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領域。
| 型號 | AES-4535
AES-4535W | AES-6035
AES-6035W | AES-8035
AES-8035W | AES-A1035W | AES-A1235W |
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| 溫度范圍 | -45℃～225℃ | -60℃～225℃ | -80℃～225℃ | -100℃～225℃ | -120℃～225℃ |
| 加熱功率 | 3.5kW | 3.5kW | 3.5kW | 4.5kW | 4.5kW |
| 制冷量 | AT -45℃ | 2.5kW | | | | |
| AT -60℃ | | 2kW | | | |
| AT -80℃ | | | 1.5kW | | |
| AT -100℃ | | | | 1.2kW | |
| AT -120℃ | | | | | 1.2kW |
| 溫控精度 | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ |
| 溫度轉換時間 | -25℃ to 150℃ 約10S
150℃to -25℃
約20s | -45℃ to 150℃ 約10S
150℃to -45℃
約20s | -55℃ to 150℃ 約10S
150℃to -55℃
約15s | -70℃ to 150℃ 約10S
150℃to -70℃
約20s | -80℃ to 150℃ 約11S
150℃to -80℃
約20s |
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| 空氣要求 | 空氣濾清器<5um
空氣含油量:<0.1ppm
空氣溫濕度：5℃～32℃ 0～50%RH |
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| 空氣處理能力 | 7m³/h ～ 25m³/h 壓力5bar～7.6bar |
| 系統(tǒng)壓力顯示 | 制冷系統(tǒng)壓力采用指針式壓力表實現(xiàn)（高壓、低壓）
循環(huán)系統(tǒng)壓力采用壓力傳感器檢測顯示在觸摸屏上 |
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| 控制器 | 西門子PLC，模糊PID控制算法 |
| 溫度控制 | 控制出風口溫度 |
| 可編程 | 可編制10條程序，每條程序可編制10段步驟 |
| 通信協(xié)議 | 以太網接口TCP/IP協(xié)議 |
| 設備內部溫度反饋 | 設備出口溫度、制冷系統(tǒng)冷凝溫度、環(huán)境溫度、壓縮機吸氣溫度、冷卻水溫度（水冷設備有） |
| 溫度反饋 | T型溫度傳感器 |
| 壓縮機 | 法國泰康 | 法國泰康 | 法國泰康 | 意大利都凌 | 意大利都凌 |
| 蒸發(fā)器 | 套管式換熱器 |
| 加熱器 | 法蘭式桶狀加熱器 |
| 制冷附件 | 丹佛斯/艾默生配件（干燥過濾器、油分離器、高低壓保護器、膨脹閥、電磁閥） |
| 操作面板 | 無錫冠亞定制7英寸彩色觸摸屏，溫度曲線顯示EXCEL 數(shù)據導出 |
| 安全防護 | 具有自我診斷功能；相序斷相保護器、冷凍機過載保護；高壓壓力開關，過載繼電器、熱保護裝置等多種安全保障功能。 |
| 制冷劑 | 冠亞混合制冷劑 |
| 外接保溫軟管 | 方便外送保溫軟管1.8m DN32快接卡箍 |
| 外型尺寸（風）cm | 45*85*130 | 55*95*170 | 70*100*175 | 80*120*185 | 100*150*185 |
| 外型尺寸（水）cm | 45*85*130 | 45*85*130 | 55*95*170 | 70*100*175 | 80*120*185 |
| 風冷型 | 采用銅管鋁翅片冷凝方式，上出風型式，冷凝風機采用德國EBM軸流風機 |
| 水冷型 W | 帶W型號為水冷型 |
| 水冷冷凝器 | 套管式換熱器（帕麗斯/沈氏 ） |
| 冷卻水量 at 25℃ | 0.6m³/h | 1.5m³/h | 2.6m³/h | 3.6m³/h | 7m³/h |
| 電源 380V 50HZ | 4.5kW max | 6.8kW max | 9.2kW max | 12.5kW max | 16.5kW max |
| 電源 | 可定制460V 60HZ、220V 60HZ 三相 |
| 外殼材質 | 冷軋板噴塑 （標準顏色7035） |
| 溫度擴展 | 高溫到 +300℃ |
微處理器芯片測試裝置的日常維護知識
微處理器芯片測試裝置的日常維護知識
由于微處理器芯片測試裝置基本由電氣、制冷和機械多個系統(tǒng)組成，因此一旦設備出現(xiàn)問題，應面面地對整個設備系統(tǒng)進行檢查和綜合分析。
微處理器芯片測試裝置一般建議您將其置于溫度為8℃~28℃,對不具備此條件的實驗室,須配備適當?shù)目照{器。
微處理器芯片測試裝置堅持專人專業(yè)管理維護，有條件的單位應不定期派專人到供方工廠培訓學習，以獲得較專業(yè)的維護、維修的經驗和能力。
固定每3個月清洗一次冷凝器，對于壓縮機采用風冷冷卻的，應定期檢修冷凝風機并對冷凝器進行去污除塵以保證其良好的通風換熱性能。對于壓縮機采用水冷冷卻的，除須保證其進水壓力與進水溫度外，還須保證相應流量，并定期對冷凝器內部進行清洗除垢以獲取其持續(xù)的換熱性能。
定期清洗微處理器芯片測試裝置蒸發(fā)器：因試品的潔凈等各異，在強制風循環(huán)作用下蒸發(fā)器上會凝聚很多塵埃等小顆粒物體，應定期進行清洗。
循環(huán)風葉、冷凝器風機清潔和平衡與清洗蒸發(fā)器相似，因試驗箱的工作環(huán)境各異，循環(huán)風葉和冷凝器風機上會凝聚很多塵埃等小顆粒物體，應定期進行清洗。
微處理器芯片測試裝置水路與加濕器清洗：若水路不暢、加濕器結垢易導致加濕器干燒，可能損壞加濕器，所以須定期對水路與加濕器進行清洗。
微處理器芯片測試裝置堅持每次試驗完畢后將溫度設定在環(huán)境溫度附近，工作30分鐘左右后再切斷電源,并擦干凈工作室內壁。長期停機不使用時應定期每半月給產品通電，通電時間不小于1小時。
