在精密制造與工業品控領域,工件表面的微小瑕疵往往是決定產品最終良率的關鍵。然而,在實際的目視檢測環節中,質檢人員常常面臨諸多挑戰:高反光材質上的細微劃痕容易被強光掩蓋,復雜紋理背景下的輕微凹陷難以用肉眼捕捉,而長時間高強度的檢查更是極易導致視覺疲勞,進而引發漏檢與誤判。當傳統的照明方式無法滿足日益嚴苛的外觀檢測標準時,一套專業且高效的檢測照明系統便成為了破局的關鍵。
針對這一行業痛點,日本株式會社光屋(HIKARIYA)推出了 Light Board PRO Ⅱ 系列不良降低照明系統(HL-LBDC 系列)。該系列專為工件缺陷檢查設計,通過科學的光學設計與靈活的配件組合,致力于將隱藏在工件表面的瑕疵“主動顯形",大幅改善目視檢測的效果。

核心優勢:以光造影,讓缺陷無處遁形
HIKARIYA HL-LBDC 系列檢測照明板的核心競爭力在于其出色的光學表現與高度的定制化能力。設備采用 PWM 脈沖寬度調制調光技術,支持 0-100% 亮度無級調節,最高面照度可達 50000Lx,能夠輕松穿透復雜的光學環境,為檢測提供充足且均勻的光源。
更為巧妙的是,該系列配備了多種專用的遮光掩膜片。通過更換不同花紋的掩膜,光線在照射到工件表面時會形成特定的光學對比。例如,無花紋的 P0 掩膜適合基礎的高亮檢查,而 10×10mm 網格(P1)或 10×15mm 條紋(S1)掩膜,則能通過光影的折射與遮擋,極大地增強劃痕、凹坑、凸起等三維缺陷的對比度。這種“以光造影"的方式,讓原本難以察覺的微小不良在質檢人員眼中變得清晰可見。
靈活適配:多型號與豐富選件滿足多元場景
為了適應不同尺寸工件的檢測需求,HL-LBDC 系列提供了 A3、A4、A5 三種標準型號。從發光面僅為 147×208mm、適合小型精密電子元件的 A5 型號,到發光面達 294×416mm、能夠覆蓋大型面板或外殼的 A3 型號,企業可以根據實際產線情況靈活選擇。
除了主機,光屋還提供了豐富的選配件以完的善的檢測工位。專用的固定支架支持高度與前后角度的精細調節,確保光線能夠以最完的美的角度投射至待測工件;同時,設備背部預留了標準的 VESA 75×75 安裝孔,方便企業進行自動化改造或集成。對于有特殊檢測需求的客戶,光屋還支持掩膜片的深度定制,真正做到“一物一方案"。
安全與品質并重,賦能高效品控
在追求極的致的檢測效果的同時,HIKARIYA 同樣注重設備的安全性與耐用性。Light Board PRO Ⅱ 系列采用寬電壓電源適配器(AC100-240V),具備極的高的環境適應性。設備在設計上充分考慮了工業現場的復雜環境,不僅對電源接口與內部電路進行了嚴格的防護,還在說明書中詳細列明了防塵、防潮、防異物等安全規范,確保設備能夠長期穩定運行。
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