在精密制造的質檢環節里,薄膜、涂層的微小不均缺陷一直是行業公的認的檢測難題:傳統白色LED光源無法生成有效干涉條紋,難以將細微的涂布差異可視化;老舊的三波長熒光燈、鈉燈不僅設備老化維護麻煩,成像清晰度也早已跟不上當下的高精度質檢要求,很容易出現涂層不均漏檢,直接拉低最終產品良率。而CCS推出的LDF-NB系列干涉條紋檢測光源,正是為解決這類痛點量身打造的專用工業檢測設備。

這款光源依托CCS獨的家的LT尖的端的成像技術,針對性解決了傳統LD激光光源的固有缺陷:
低噪成像?:通過特殊光學設計大幅降低激光斑點噪聲,徹的底的避免圖像閃爍干擾檢測判斷,成像畫面穩定清晰。
無縫替代?:可直接替換產線原有老舊的三波長熒光燈、鈉燈,無需大幅改造現有設備,快速完成產線升級。
多色適配?:提供紅、綠、藍、RGB全彩共4種發光顏色,可根據不同材質的檢測需求靈活選型。

它的應用覆蓋了多個精密制造核心質檢環節:
?薄膜涂層檢測?:可清晰識別各類光學薄膜表面涂層的有無、厚薄不均缺陷,解決普通光源下缺陷完的全的不可見的問題。
?玻璃貼合檢測?:針對蓋板玻璃貼合工藝,能將貼合縫隙不均、局部虛貼的位置通過干涉條紋直觀呈現,大幅降低漏檢率。
?晶圓涂布檢測?:適配半導體晶圓表面光刻膠等涂布層的質檢需求,精準捕捉微米級的涂布不均瑕疵。

無論是人工目視抽檢,還是接入工業相機搭建自動化在線質檢工位,這款光源都能穩定輸出符合要求的干涉條紋成像效果,幫助產線快速補齊涂層類缺陷的檢測短板,從根源上減少因漏檢帶來的返工、客訴損失。
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