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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
日立掃描電鏡TM4000PlusII是在 TM4000II 基礎(chǔ)上增加高靈敏度低 真空二次電子探頭 UVD，該探頭在低真空環(huán)境下具有 很好的成像質(zhì)量。
TM4000PlusII 可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊 加并實(shí)時進(jìn)行顯示，獲得最多的樣品信息。可選配附 件豐富，擁有諸多附加功能。
日立掃描電鏡TM4000PlusII可觀察大直徑為 80 mm，厚度為 50 mm 的樣品。 設(shè)備內(nèi)置光學(xué)相機(jī) ( 選配 )，可輕松尋找目標(biāo)樣品。 從裝樣到獲取圖像僅需 3 分鐘左右，優(yōu)化了原來的形 狀觀察、元素分析到報(bào)告制作的工作流程。
● 觀察條件： 5kV/1
0kV/15kV、EDX
● 放大倍率： 10X-100000X
● 即便是絕緣物樣品，也無需預(yù)處理，就可直接進(jìn)行觀察