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產品簡介 XGT-5000X射線熒光分析顯微鏡儀器簡介：堀場成功地建造了世界*的X光導管用來產生精細X光束以分析微觀樣品。 X光束由顯微（測）聚焦X光管產生，穿過X光導管形成精細的（直徑小于10μm） 高強度的X光束，照射XY掃描臺上的樣品，并產生X熒光，由硅X光探頭檢測。 同時，穿過樣品的透射X光由閃爍體探頭檢測。然后重新用XY掃描信號將X熒光 測出的樣品表面成分和由透射X光得到的樣品內部結構 詳情介紹 XGT-5000 X射線熒光分析顯微鏡 儀器簡介 堀場成功地建造了世界*的X光導管用來產生精細X光束以分析微觀樣品。 X光束由顯微（測）聚焦X光管產生，穿過X光導管形成精細的（直徑小于10μm） 高強度的X光束，照射XY掃描臺上的樣品，并產生X熒光，由硅X光探頭檢測。 同時，穿過樣品的透射X光由閃爍體探頭檢測。然后重新用XY掃描信號將X熒光 測出的樣品表面成分和由透射X光得到的樣品內部結構形成各自的映射圖象。 另外，X光導管的可以方便地在10μm點直徑和100μm點直徑間切換， 以獲得樣品的*測量模式。 XGT-5000 X射線熒光分析顯微鏡 儀器 技術參數 1.l.X光微細光束發生器X光束開關機構：Ф10μm或Ф100μmXGTX發生器：X光管（靶材：Rh）管電壓：15、30、50KV（可選）管電流：0.1、1.0 MA 2.X光探頭① 硅探頭：高純硅X光探頭（Xerophy ） 可檢元素11Na-92U 3.同時可測圖象數：一個透射X光映象31個X熒光映象（256×256像素）或15個X熒光映象（512×512像素） 4.定量分析（FPM和測量線定量） 5.光學顯微鏡：放大倍數10 XGT-5000 儀器主要特點 1.創新1：大氣狀態下分析，省卻了樣品預處理的麻煩。 2.創新2：非破壞、無污染的分析貴重樣品。 3.創新3：同時分析樣品的成分和結構。 4.創新4：同時對從11號元素鈉到92號元素鈾之間的31個元素進行分析并映象。 5.創新5：可進行10μm或100μm直徑的定點分析，也可以進行微觀級分析(512μm×512μm） 上一篇： MESA-50X射線熒光分析儀 下一篇： IGA array探測器
