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nanoSAQLA——高通量納米粒徑分析的高效解決方案
對(duì)于需要進(jìn)行大量樣品檢測(cè)的質(zhì)檢部門，大塚電子的nanoSAQLA多樣品納米粒徑測(cè)量系統(tǒng)提供了高效便捷的解決方案。
nanoSAQLA基于動(dòng)態(tài)光散射法，粒徑測(cè)量范圍為0.6 nm至10 μm，濃度范圍覆蓋0.00001%~40%，適用于從稀薄到濃厚的各類溶液體系。
該設(shè)備的最大亮點(diǎn)在于其高通量的自動(dòng)測(cè)量能力：標(biāo)準(zhǔn)配置即可實(shí)現(xiàn)5個(gè)樣品的連續(xù)測(cè)量，每樣品測(cè)量時(shí)間約1分鐘，配備AS50自動(dòng)進(jìn)樣器后更可一次放置50個(gè)樣品進(jìn)行全自動(dòng)測(cè)量。
nanoSAQLA采用了內(nèi)置非浸泡型樣品池單元塊設(shè)計(jì)，各個(gè)樣品池獨(dú)立存在，無需擔(dān)心交叉污染問題，保證了檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性與可重復(fù)性。
設(shè)備操作極為簡(jiǎn)便，搭載一鍵式測(cè)量功能，且內(nèi)置溫度梯度功能，可在0~90℃的范圍內(nèi)進(jìn)行溫度依賴性的粒徑分析。
該設(shè)備廣泛應(yīng)用于界面化學(xué)、無機(jī)物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，尤其適用于需要日常大批量質(zhì)檢的場(chǎng)合。
緊湊小巧的機(jī)身設(shè)計(jì)（尺寸僅W240×D480×H375 mm，重量約18 kg）使其在實(shí)驗(yàn)室空間中占據(jù)極小位置，是兼顧性能與效率的理想選擇。
