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池田屋實業（深圳）有限公司
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池田屋精品！日本新宇宙XO-326IIsA數字式氧氣濃度計賦能長距離與密閉空間缺氧安全監測摘要：在儲罐內部、地下管廊及隧道等密閉空間作業前，氧氣濃度的精確預檢是保障人員生命安全的第一道防線，而長距離采樣往往需要檢測儀具備靈活的電纜延伸能力。池田屋全新引入的日本新宇宙（Shin-Cosmos）XO-326IIsA型數字式氧氣濃度計，以5米伸縮電纜與隔膜Galvanic電池式傳感器為核心，可實現0至25vol%范圍內±0.5vol%的高精度測量，配備兩級缺氧報警與約15000小時超長續航，為石化、市
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池田屋精品！日本新宇宙XP-703DIII半導體材料氣體檢測儀
池田屋精品！日本新宇宙XP-703DIII半導體材料氣體檢測儀賦能半導體工廠特氣微量泄漏精準定位摘要：在半導體晶圓制造、薄膜沉積及光伏電池生產等工藝中，砷化氫、磷化氫、等高毒性氣體的微量泄漏檢測直接關系到人員安全與生產連續性。池田屋全新引入的日本新宇宙（Shin-Cosmos）XP-703DIII型半導體材料氣體檢測儀，以熱線型半導體傳感器與泵吸式主動采樣為核心，可檢測低至0.2ppm的及0.3ppm的磷化氫等微量泄漏，獨特的變頻報警聲隨濃度升高逐漸加快，便于快速鎖定泄漏源位置，為半導體、光伏及 -
池田屋精品！日本新宇宙XPS-7II半導體材料氣體探測器賦能半導體廠特氣泄漏快速精準排查摘要：在半導體晶圓制造、薄膜沉積及刻蝕工藝中，硅烷、磷化氫、NF?等特殊材料氣體的微量泄漏檢測，是保障人員安全與生產連續性的關鍵防線。池田屋全新引入的日本新宇宙（Shin-Cosmos）XPS-7II型半導體材料氣體探測器，以可更換傳感器單元與泵吸式主動采樣為核心，一臺主機即可通過更換傳感器組件檢測砷化氫、磷化氫、硅烷、NF?等二十余種半導體特氣，大幅降低設備配置成本與維護時間，為半導體制造與光伏產業的安全生
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摘要：在半導體晶圓減薄（背面研磨）、切割道檢測及化合物半導體加工等工藝中，晶圓厚度的實時精確監控是保障良率與品質的核心環節。池田屋全新引入的日本大塚電子（OtsukaElectronics）SF-3/200型光譜干涉晶圓厚度計，基于光譜干涉測量技術，以非接觸、非破壞方式測量Si、SiC、GaAs、InP、玻璃等透明與半透明基板厚度，測量范圍覆蓋0.5μm至7mm，重復精度±0.02μm，為半導體晶圓制造與精密加工提供了高精度的在線厚度測量解決方案。正文：在半導體晶圓減薄（背面研磨）工藝、切割道深
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摘要：在半導體晶圓、光學鍍膜及平板顯示等先進制造領域，納米級薄膜的厚度與光學常數（n、k）精確表征是保障器件性能與工藝優化的核心環節。池田屋全新引入的日本大塚電子（OtsukaElectronics）FE-5000系列光譜橢偏儀，基于旋轉檢偏器法與自動可變入射角機構，可在紫外-可見光波段（300-800nm）對單層及多層薄膜進行高靈敏度橢偏參數（Ψ、Δ）測量，配合豐富的光學常數數據庫與配方注冊功能，為半導體、FPD及光學鍍膜等領域的薄膜研發與產線質控提供了高精度的非破壞性薄膜分析解決方案。正文：
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摘要：在光學膜、功能薄膜、鋰電隔膜及涂布產品等卷對卷連續生產中，薄膜厚度全幅面均勻性的實時監控是保障產品一致性與良率的關鍵。池田屋全新引入的日本大塚電子（OtsukaElectronics）線掃描薄膜厚度計【在線式】，基于光譜干涉測量技術與高精度膜厚解析引擎，實現最短1毫秒測量間隔與最寬10米測量寬度的在線全幅掃描，無需切割樣品即可對連續行進中的薄膜進行非接觸、非破壞、實時全幅厚度分布測量，為光學膜、鋰電池隔膜及精密涂布等行業的產線質控提供了高效智能的在線膜厚監控解決方案。正文：在光學膜（偏光片
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池田屋精品！日本大塚電子MCPD-9800旗艦型多通道光譜儀
池田屋精品！日本大塚電子MCPD-9800旗艦型多通道光譜儀池田屋精品！日本大塚電子MCPD-9800旗艦型多通道光譜儀摘要：在LED照明開發、顯示面板檢測及材料科學研究中，光譜的高速、高精度測量是推動產品性能提升與工藝優化的關鍵。池田屋全新引入的日本大塚電子（OtsukaElectronics）MCPD-9800型旗艦多通道光譜儀，作為MCPD系列的頂級型號，以5毫秒起的最短曝光時間與低雜散光光學系統為核心，支持220nm至1600nm寬波長范圍選配，配合光纖型自由光學系統與豐富的分析軟件，可 -
摘要：在半導體晶圓制造、平板顯示面板生產及光學鍍膜工藝中，薄膜厚度的實時在線監控是保障工藝穩定性與產品一致性的關鍵。池田屋全新引入的日本大塚電子（OtsukaElectronics）嵌入式薄膜厚度監測儀，基于光纖型光譜干涉測量技術，配備高精度FFT薄膜厚度分析引擎，可輕松集成至各類生產設備與在線檢測線中，實現薄膜厚度的非接觸、實時測量與多點監控，為半導體、FPD及光學鍍膜等行業的自動化過程控制提供了高可靠性的在線監測解決方案。正文：在半導體晶圓的CVD/PVD鍍膜過程、FPD面板的彩色濾光片/光
