OTSUKA大塚電子亮相鈣鈦礦峰會|兩大核心設備助力產業創新
7月2日-3日,備受行業矚目的《2026焦耳時代鈣鈦礦技術創新與產業鏈生態峰會》滿落幕。本次峰會匯聚200余位產業精英,其中 CTO、資深科學家、企業研發負責人占比超65%,聚焦鈣鈦礦技術研發、量產落地、產業鏈協同等核心議題,搭建起產學研用深度交流的平臺。
本次峰會,面向鈣鈦礦領域核心從業者,展示適配行業全流程檢測的精密儀器解決方案,助力大塚電子在鈣鈦礦檢測賽道的品牌推廣,為產業高質量發展注入技術動能
本次峰會現場,大塚電子攜兩款明星設備重磅登場,精準覆蓋鈣鈦礦薄膜檢測、納米材料表征兩大核心環節,憑借精準、高效、穩定的性能,獲得現場嘉賓的廣泛關注與認可。
鈣鈦礦電池的光電轉換效率與器件穩定性,與薄膜均勻度、層厚精度密切相關,微區膜層的細微差異都可能影響最終產品性能。OPTM 顯微分光膜厚儀采用非接觸無損檢測模式,憑借微米級微區光斑,可精準定位鈣鈦礦薄膜、傳輸層、鈍化層的局部點位,快速完成單層或多層復合膜的厚度、折射率、消光系數等參數測量。
適配實驗室配方研發、中試產線批量抽檢等多種場景,為鈣鈦礦成膜工藝優化提供量化數據支撐,是鈣鈦礦器件研發階段的標配光學檢測設備,助力企業快速優化工藝、提升研發效率。
鈣鈦礦前驅體溶液、量子點、納米添加劑的粒徑分布、Zeta 電位,直接決定材料的分散穩定性與薄膜結晶質量,是影響鈣鈦礦電池良率的關鍵因素。ELSZ 納米粒度 zeta 電位分析儀可精準表征納米級粉體、膠體的粒徑大小及分布、帶電特性,快速評估前驅體溶液配方的穩定性,提前規避材料團聚、相分離等量產過程中常見的缺陷。
通過該設備的檢測數據,企業可針對性優化前驅體制備工藝,有效提升鈣鈦礦電池的良率與長期穩定性,為規模化量產筑牢質量基礎
本次峰會參會嘉賓均為鈣鈦礦領域的技術核心人員,圍繞鈣鈦礦疊層電池、柔性器件、量產質控、檢測標準等行業共性難點,分享設備應用案例與檢測解決方案。
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