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Otsuka大塚膜厚儀分光干涉式晶圓
Otsuka大塚膜厚儀分光干涉式晶圓即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產品特色 非接觸式、非破壞性光學...
型號: SF-3/300
所在地:蘇州市
參考價:
面議更新時間:2026/5/21 9:37:07
對比
Otsuka大塚膜厚儀分光干涉式晶圓
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日本進口Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀
日本進口Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產品特色 非接觸式、非破...
型號: SF-3/300
所在地:蘇州市
參考價:
面議更新時間:2026/5/20 16:20:16
對比
日本進口Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀
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Otsuka大塚膜厚儀分光干涉式晶圓
Otsuka大塚膜厚儀分光干涉式晶圓即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產品特色 非接觸式、非破壞性光學...
型號: SF-3/200
所在地:蘇州市
參考價:
面議更新時間:2026/5/20 16:03:55
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Otsuka大塚膜厚儀分光干涉式晶圓日本
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日本進口Otsuka大塚膜厚儀顯微微分光嵌入型
日本進口Otsuka大塚膜厚儀顯微微分光嵌入型利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點,在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息。
型號: OPTM-H3
所在地:蘇州市
參考價:
面議更新時間:2026/5/20 15:47:24
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日本進口Otsuka大塚膜厚儀顯微微分光嵌入型
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國內代理Otsuka大塚膜厚儀嵌入型顯微微分光
國內代理Otsuka大塚膜厚儀嵌入型顯微微分光利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點,在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息。
型號: OPTM-H2
所在地:蘇州市
參考價:
面議更新時間:2026/5/20 15:32:43
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國內代理Otsuka大塚膜厚儀嵌入型顯微微分光
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日本Otsuka大塚膜厚儀嵌入型顯微微分光
日本Otsuka大塚膜厚儀嵌入型顯微微分光利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點,在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息。
型號: OPTM-H1
所在地:蘇州市
參考價:
面議更新時間:2026/5/20 15:23:19
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日本Otsuka大塚膜厚儀嵌入型顯微微分光
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日本Otsuka大塚膜厚儀顯微分光新型高精度
日本Otsuka大塚膜厚儀顯微分光新型高精度● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測試膜厚、折...
型號: OPTM-A3
所在地:蘇州市
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面議更新時間:2026/5/20 14:40:41
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日本Otsuka大塚膜厚儀顯微分光新型高精度
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國內代理Otsuka大塚膜厚儀顯微分光
國內代理Otsuka大塚膜厚儀顯微分光● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測試膜厚、折射率n...
型號: OPTM-A2
所在地:蘇州市
參考價:
面議更新時間:2026/5/20 14:15:40
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國內代理Otsuka大塚膜厚儀顯微分光
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日本進口Otsuka大塚膜厚儀顯微分光
日本進口Otsuka大塚膜厚儀顯微分光● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測試膜厚、折射率n...
型號: OPTM-A1
所在地:蘇州市
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面議更新時間:2026/5/20 14:05:31
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日本Otsuka大塚進口顯微分光膜厚儀
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Otsuka大塚膜厚儀納米粒子徑測試系統(tǒng)
Otsuka大塚膜厚儀納米粒子徑測試系統(tǒng)nanoSAQLA是一臺通過動態(tài)光散亂法(DLS法)測量粒徑(粒徑0.6nm~10um)的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃...
型號: nanoSAQLA
所在地:蘇州市
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面議更新時間:2026/5/20 13:54:13
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Otsuka大塚膜厚儀納米粒子徑測試系統(tǒng)日本
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Otsuka大塚膜厚儀多樣品nano粒子徑測量系統(tǒng)
Otsuka大塚膜厚儀多樣品nano粒子徑測量系統(tǒng)Otsuka大塚的nanoSAQLA AS50是專為納米級樣品設計的膜厚儀與粒徑測量系統(tǒng),主要用于精準檢測薄膜...
型號: nanoSAQLA...
所在地:蘇州市
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面議更新時間:2026/5/20 13:46:25
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Otsuka大塚膜厚儀多樣品nano粒子徑測量系統(tǒng)
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Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位分子量測試系統(tǒng)
Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位分子量測試系統(tǒng)是一款集ZETA電位、粒徑與分子量測量于一體的納米分析系統(tǒng)?,專為膠體與界面科學、生物醫(yī)藥、材料研發(fā)等高精度研究...
型號: ELSZneo
所在地:蘇州市
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面議更新時間:2026/5/20 9:19:42
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Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位分子量測試系統(tǒng)
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日本Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位粒徑測試系統(tǒng)
日本Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位粒徑測試系統(tǒng)ELSZneoSE是一款專為膠體與界面科學研究設計的高精度分析儀器?,支持粒子徑、ZETA電位的連續(xù)測量,適用...
型號: ELSEneoSE
所在地:蘇州市
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面議更新時間:2026/5/20 9:00:09
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日本Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位粒徑測試系統(tǒng)
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日本Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位粒徑分子量
日本Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位粒徑分子量●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑,并可進行分子量測量的檢測裝置。●適用于粒徑測量范圍(0.6nm~...
型號: ?ELSZ-200...
所在地:蘇州市
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面議更新時間:2026/5/19 16:39:54
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日本Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位粒徑分子量
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進口Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位粒徑分子量
進口Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位粒徑分子量●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑,并可進行分子量測量的檢測裝置。●適用于粒徑測量范圍(0.6nm~...
型號: ELSZ-2000...
所在地:蘇州市
參考價:
面議更新時間:2026/5/19 16:33:32
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進口Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位粒徑分子量
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日本Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位粒徑分子量
日本Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位粒徑分子量●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑,并可進行分子量測量的檢測裝置。●適用于粒徑測量范圍(0.6nm~...
型號: ELSZ-2000...
所在地:蘇州市
參考價:
面議更新時間:2026/5/19 15:51:15
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日本Otsuka大塚膜厚儀ZETA電位粒徑分子量
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Otsuka大塚膜厚儀高速LED光學特性儀
Otsuka大塚膜厚儀高速LED光學特性儀產品信息 特 點 與產線的控制信號同步 通過光纖的自由的測試系統(tǒng) 實現最短2ms~的光譜測量(LE-5400) 同以往...
型號: LE-Series
所在地:蘇州市
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面議更新時間:2026/5/19 15:25:45
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Otsuka大塚膜厚儀高速LED光學特性儀日本
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日本進口Otsuka大塚膜厚儀高性能分光光度計
日本進口Otsuka大塚膜厚儀高性能分光光度計特殊長度 該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ,在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項成果 。...
型號: 輻射照度
所在地:蘇州市
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面議更新時間:2026/5/19 13:52:01
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日本進口Otsuka大塚膜厚儀高性能分光光度計
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Otsuka大塚膜厚儀紫外分光配光測量系統(tǒng)
Otsuka大塚膜厚儀紫外分光配光測量系統(tǒng)通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量 從配光上評估紫外光的最大發(fā)光強度、光束開度、光束光通量 涵蓋從紫外線到可見光的...
型號: GP-2000
所在地:蘇州市
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面議更新時間:2026/5/19 11:46:21
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Otsuka大塚膜厚儀紫外分光配光測量系統(tǒng)
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日本 Otsuka大塚膜厚儀分光配光測量系統(tǒng)
日本 Otsuka大塚膜厚儀分光配光測量系統(tǒng)產品信息 特征 通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量 從配光上評估紫外光的最大發(fā)光強度、光束開度、光束光通量 涵蓋...
型號: GP-1100
所在地:蘇州市
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面議更新時間:2026/5/19 10:13:47
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日本Otsuka大塚膜厚儀分光配光測量系統(tǒng)