王子計測(OSI Oji Keisoku)KOBRA 系列相位差測量儀,是顯示光學薄膜行業標配精密檢測設備,依靠 創優化版平行尼科爾旋轉法,實現非接觸、高速、高精度檢測薄膜雙折射、相位差、慢軸取向角等關鍵參數,廣泛應用于 OLED 圓偏光膜、TAC 膜、COP 補償膜、偏光片、高分子拉伸薄膜的研發與產線質控。
整套光學系統由多波段光源、起偏器、樣品工位、旋轉檢偏器、光電探測器與數據運算單元構成。設備光源輸出單色平行光,光線首先經過起偏器,轉化為線性偏振光。當偏振光穿透具備各向異性的光學薄膜時,受材料分子取向影響,入射光會分解為快光與慢光兩個正交偏振分量。兩種分量在薄膜內部傳播速度不同,穿出樣品后產生光程差,也就是相位差,偏振形態由線偏振轉變為橢圓偏振光,這是薄膜雙折射效應的直觀體現。
調制后的橢圓偏振光抵達后端高速旋轉檢偏器。王子計測通過伺服機構持續勻速轉動檢偏器,光電傳感器實時采集不同旋轉角度下的透光強度信號,記錄光強隨角度變化的完整曲線。普通偏光檢測設備僅依靠單一角度讀數,極易引入誤差;平行尼科爾旋轉法則采集連續完整光強波形,主機內置算法對波形進行擬合解析,消除光源波動、樣品輕微傾斜帶來的干擾,精準解算出面內相位差 Re、厚度方向相位差 Rth、慢軸方位角、三維折射率等多項核心指標。
設備搭載多波長 LED 光源,覆蓋可見光至紅外區間,可同步采集不同波長下的相位數據,分析材料波長色散特性, 匹配 顯示材料開發需求。離線臺式機型支持定點測試與長尺寸樣品連續掃描;KOBRA-WI 在線機型將這套光學系統小型化,改造為產線非接觸探頭,可實時監控卷材走帶過程中薄膜橫向、縱向相位分布,捕捉拉伸不均、局部應力缺陷、厚薄波動等隱性品質問題。測量全程無需接觸樣品表面,不會劃傷精密光學膜,滿足連續量產不間斷檢測要求。
區別于傳統偏光顯微鏡人工讀數模式,王子計測將光學偏振原理與數字化信號處理結合。光電探測器把光信號轉化為電信號傳輸至控制系統,原始光學數據經過降噪、波形校正、相位解包裹運算,直接輸出標準化數值,并自動生成二維相位云圖、分布曲線。針對超低相位差基材,儀器具備極低檢測下限,能夠識別微弱分子取向差異,滿足柔性屏 PI 基材、超薄光學膜的嚴苛測試標準。
除光學相位差設備外,王子計測產品線還包含微波式分子取向計、酶電極生物傳感器。MOA 系列分子取向計依托微波空腔共振原理,通過介質樣品擾動微波諧振信號,評估高分子薄膜整體分子取向;BF 系列生物傳感器基于固定化酶電化學原理,依靠酶促反應生成 ,轉化為電流信號定量檢測培養基內糖類、有機酸濃度。
依托多元化檢測原理矩陣,王子計測打通高分子材料從分子微觀取向、光學宏觀特性,到生化組分分析的檢測鏈路。其中 KOBRA 相位差系列憑借穩定可靠的平行尼科爾旋轉檢測方案,成為全球光學膜產業鏈
的基準檢測設備,持續支撐液晶顯示、柔性 OLED、光伏光學材料的工藝迭代與品質管控。