微型探針冷熱臺采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現樣品臺-190~600℃范圍內精準控制,可與電學儀表(如源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。客戶群體:高校實驗室、科研院所、半導體實驗室等。
設備安裝與連接:
將微型探針冷熱臺平穩安裝于光學顯微鏡或SEM載物臺,調整水平以避免物鏡碰撞。
連接溫控器、液氮軟管(如適用)、循環水冷機及電源線,確保所有接口牢固。
使用網線或USB線將控制單元與電腦連接,并啟動配套控溫軟件。
環境設置與校準:
若需真空或惰性氣體保護,先關閉腔體,啟動真空泵抽至目標真空度(≤10?³Pa),或通入高純氮氣置換空氣。
在軟件中進行溫度校準,確保熱電偶讀數與實際溫度一致,避免測量偏差。
樣品準備與探針調節:
樣品尺寸應適配臺面中心區域(通常φ6-26mm),厚度不超過1mm,表面清潔無污染。
使用鑷子將樣品置于臺心,若為電學測試,確保與四個電極良好接觸,必要時使用導電膠輔助固定。
通過顯微鏡定位待測點,調節X/Y/Z微調旋鈕將探針緩慢下壓至樣品焊盤,觀察電信號通斷狀態確認接觸良好。
溫度程序設定與運行:
在控制軟件中創建溫控程序,典型結構包括:
初始段:設定起始溫度(如室溫)并平衡5-10分鐘;
ramp段:設置升降溫速率(建議≤10℃/min)至目標溫度;
hold段:保溫一段時間用于數據采集;
可設置多循環段模擬熱老化或相變過程。
啟動程序前確認制冷系統(液氮/壓縮機制冷)已就緒,水冷機正常運行。
實驗監測與數據采集:
實時監控溫度曲線、電信號穩定性及顯微圖像變化。
外部設備(如源表、萬用表、相機)應與溫控軟件時間同步,或由其觸發記錄,確保數據對齊。
遇異常波動時暫停程序,檢查探針接觸、溫度漂移或環境干擾。
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