當前位置:鈴田(上海)科技有限公司>>光學儀器>>MORIEX茉麗特>> SOD-200-22C-NSWIR日本MORIEX茉麗特半導體晶圓檢測筒鏡
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 能源,電子/電池,制藥/生物制藥,綜合 |
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MORITEX茉麗特是日本工業視覺核心部件品牌,專注于工業鏡頭、工業光源、視覺系統研發制造,是*機器視覺領域的光學品牌,廣泛應用于 3C 電子、半導體、汽車制造、醫療檢測、包裝印刷等高精度檢測場景。工業鏡頭、顯微鏡頭、遠心鏡頭、雙遠心鏡頭/準直光源、FA鏡頭、線掃鏡頭。
日本MORIEX茉麗特半導體晶圓檢測筒鏡、日本MORIEX茉麗特半導體晶圓檢測筒鏡
MORITEX 茉麗特 SOD-200-22C-NSWIR 短波紅外專用無限遠筒鏡,適配無限遠校正物鏡的成像筒鏡、兼容物鏡品牌:奧林巴斯、三豐、尼康、內置同軸照明結構


SOD-200-22C 焦距200.01mm
SOD-200-22C-NCL 焦距200mm
SOD-200-22C-NSWIR 焦距201.73mm
SOD-200-40M58 焦距199.99mm
SOD-180-32M58 焦距179.95mm
SOD-180-32M58-AFP 焦距179.95mm
SOD-180-27M42-DIC 焦距179.95mm

紅外高透過率設計
專門針對短波紅外鍍膜,普通可見光筒鏡在 900nm 以上透過率暴跌,該款保證 900~1700nm 高透光,紅外成像亮度均勻、對比度高。
不損失物鏡分辨率
紅外波長更長,普通筒鏡易色散模糊;本款做紅外色差校正,搭配 10 倍紅外物鏡分辨率可達1.3μm,滿足微米級精密檢測。
同軸光路適配
兼容同軸落射紅外光源,消除紅外波段內部雜散光、光暈,適合鏡面硅片類高反光工件。
半導體晶圓檢測(最主流)
短波紅外可穿透硅材料,檢測硅片內部隱裂、亞表面缺陷、埋層線路、光刻對位標記、封裝內部空洞,可見光無法穿透硅層做內部檢測。
Mini/Micro LED 基板檢測
紅外穿透基板,排查底層線路斷路、分層、內部異物。
光伏硅片質檢
硅片隱裂、劃痕、雜質、厚度不均內部探傷。
特殊材料透視檢測
透明塑料、油墨、涂層、薄膠層內部缺陷,可見光被遮擋、紅外可穿透成像。
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