XIM-05C450K 屬于日本 CCS XIM 系列微型同軸環形一體光源，集成同軸落射 + 低角度環形雙光路，專為微小元器件、芯片引腳、微型工件微距視覺檢測開發，自帶基礎偏振光學層，抑制微型鏡面反光，北崎國際貿易為原裝正規授權代理。

SERIC索萊克 人工照明儀 呼和浩特

• 復合雙光路結構

• 中心垂直同軸落射光：捕捉微小平面劃痕、臟點、字符；

• 外圈 45° 低角度斜射環形光：凸顯微小凹凸、引腳毛刺、淺刻印；

  一套光源同時實現同軸 + 低角度兩種照明效果，無需更換工裝。

• 發光光譜：450nm 短波藍光，對透明塑膠、硅晶圓、透明薄膜雜質對比度提升顯著，可過濾環境雜光干擾。

• 光學配置：機身內置 C 系列起偏偏振片，中等反光微型金屬、硅片可直接弱化鏡面高光；超高拋光工件可搭配外置檢偏濾鏡實現正交消反光。

• 供電標準：DC24V 工業直流供電，全系列兼容 CCS PDD、PSB 光源控制器，支持無級調光、外部信號同步觸發。

• 機身結構：超小型緊湊鋁合金防塵殼體，微型法蘭標準接口，直接鎖附 0.5 倍微距鏡頭、小型 C 口顯微鏡頭前端，不占用狹小檢測工位空間。

• 安裝規格：標準鏡頭前置卡扣式安裝，機身預留 M3 固定螺孔，適配臺式顯微鏡、微型自動化檢測治具。

SERIC索萊克 人工照明儀 呼和浩特

• 同軸 + 低角度二合一復合光路，微型工件一站式檢測

  區別單獨同軸 / 單獨環形光源，XIM-05C450K 中心同軸光檢測平面瑕疵，外圈斜射光凸顯凹凸毛刺，一套光源滿足平面 + 輪廓兩類缺陷檢測，減少設備換型、簡化產線工裝。

• 450nm 短波藍光，透明 / 半導體工件缺陷增強

  短波藍光穿透力適中，透明塑膠、硅片、薄膜內部微小顆粒、裂紋成像對比度遠高于白光 / 紅光，可過濾車間環境白光雜光干擾，提升算法識別穩定性。

• 內置 C 偏振層，微型鏡面工件基礎消眩光

  一體集成起偏光學膜，芯片焊盤、微型金屬端子、拋光硅片定向鏡面反光被大幅弱化，微米級劃痕、氧化污點清晰顯現，無需額外加裝濾鏡，縮小微型工裝體積。

• 微型超緊湊機身，適配狹小微距檢測工位

  整體外徑尺寸小巧，專為 0.5 倍微距鏡頭配套設計，可嵌入臺式顯微鏡、微型自動化拾取檢測工位，不干涉微小物料輸送軌跡。