產品簡介 GD-Profiler HR射頻輝光放電光譜儀擁有*的超高光譜分辨率，為解決復雜基體中的疑難問題提供了適宜、便利的方法。 詳情介紹 GD-Profiler HR 射頻輝光放電光譜儀 擁有*的超高光譜分辨率，為解決復雜基體中的疑難問題提供了適宜、便利的方法。 GD-Profiler HR 射頻輝光放電光譜儀 技術參數： 1、射頻發生器-標準配置、復合D級標準、穩定性高、濺射束斑為平坦、等離子體穩定時間短、表面信息無任何失真。 2、脈沖工作模式既可以分析常規的涂/鍍層和薄膜，也可以很好地分析熱導性能差和熱易碎的涂/鍍層和薄膜。 3、Polyscan多道（同時）光譜儀可全譜覆蓋，光譜范圍從110nm-800nm，可測試遠紫外元素C、H、O、N和Cl。 4、HORIBA的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器擁有zui大的光通量，因而擁有的光效率GD敏度。 5、高動態檢測器（HDD）可快速、高靈敏地檢測ppm-100%含量的元素。動態范圍為5×10 10 。 6、寬大的樣品室方便各類樣品的加載。 7、功能*的Quantum軟件可以靈活方便的輸出各種格式的檢測報告。 8、HORIBA*的單色儀（選配）可大的提高儀器的靈活性，可實現固定通道外任意一個元素的同步測試，稱為n+1。 9、適用于ISO14707和16962標準。 10、GD-Profiler HR多色儀焦距為1米，光譜分辨率可達14pm，zui多可同時分析58種元素。 11、GD-Profiler HR可選配焦距為1米的單色儀，zui高光譜分辨率達9pm。 上一篇： Profiler 2射頻輝光放電光譜儀 下一篇： MicOS顯微光譜測量系統