產品簡介 高效型CL光譜儀 電子束入射到樣品上，即可用光學方法接收并分析陰發光（CL），從而提供樣品詳細的物理特性。它是一種無損的分析方法，結合電鏡可提供與形貌相關的高空間分辨率光譜結果，是納米結構和體材料的*分析工具。 HCLUE是一款基于反射鏡耦合優化的CL系統，結合了Jobin Yvon光譜技術制造的光譜儀模塊，具有高靈敏度性能，適用于弱信號測量。可同時配備兩個探測器，以獲得更大光譜范圍。 詳情介紹 高效型CL光譜儀 儀器簡介： 電子束入射到樣品上，即可用光學方法接收并分析陰發光（CL），從而提供樣品詳細的物理特性。它是一種無損的分析方法，結合電鏡可提供與形貌相關的高空間分辨率光譜結果，是納米結構和體材料的*分析工具。 HCLUE是一款基于反射鏡耦合優化的CL系統，結合了Jobin Yvon光譜技術制造的光譜儀模塊，具有高靈敏度性能，適用于弱信號測量。可同時配備兩個探測器，以獲得更大光譜范圍。 原理圖 高效型CL光譜儀 主要特點： ● 反射鏡直接耦合 ● 高靈敏度 ● 掃描成像、線掃描、點測量 ● 多種光柵選項 ● 多種焦長光譜儀選項：320mm-550mm ● 可配雙探測器以獲得zui大光譜范圍：185nm-2500nm 重點應用領域： 陰發光光譜儀（CL）是用來表征材料中的缺陷，元素和雜質追蹤的*分析工具，廣泛適用于各個應用領域。 1、材料科學 ● 半導體和光電材料 ● 介電/陶瓷 ● 氧化物膜 ● 玻璃 2、礦物、地質 ● 碳酸巖 ● 晶體 ● 金剛石 ● 鋯石、方解石、白云石 3、 生命科學 4、 * CL光譜及成像： ■CL光譜：使用CL測量光譜時，可在電鏡下觀察并選擇待測樣品區域。 ■快速CL成像：將掃描電子束與您的光譜儀同步，提供快速成像方案。使用HCLUE系統測量的GaN樣品，測量中使用了超快SWIFTTM成像模式。 礦物樣品中的白云石和磷酸鈣。測量使用Flex-CLUE系統，配備iHR320光譜儀和開放電式CCD探測器。感謝Prof A. Jambon, UPMC France提供數據 左圖：使用偽彩色顯示350nm-450nm之間發射光譜區。figure 1, Hyperspectral CL mapping 中圖：電鏡下的樣品圖像。figure 2, SE image 右圖：對應的光譜，其中不同色彩區域與左圖中顯示的顏色對應。figure 3, CL spectral (RGB) 上一篇： EMIA-Expert全新碳硫分析儀 下一篇： MicOS顯微光譜測量系統